[发明专利]一种基于多探测器的X射线检测系统和方法

权利要求书

1.一种基于多探测器的X射线检测系统，其特征在于：包括样品盘、第一传送装置、机械手、第二传送装置、X射线源和多探测器模组，所述样品盘由旋转驱动装置驱动旋转，所述第一传送装置用于将待测样品传送至匀速旋转的所述样品盘上，使多个待测样品规整摆放在所述样品盘上，所述机械手用于将规整摆放好待测样品的所述样品盘转移至所述第二传送装置上，以便所述第一传送装置继续将待测样品传送至下一个所述样品盘上进行规整摆放，所述第二传送装置用于将所述机械手转移来的各所述样品盘依次传送至测试区，所述多探测器模组包括多个探测器，所述X射线源和所述多探测器模组设置于所述测试区，用于依次对所述测试区中传送来的所述样品盘上的各待测样品同时进行X射线成像检测。

2.根据权利要求1所述的基于多探测器的X射线检测系统，其特征在于：所述第一传送装置包括第一传送带，所述第一传送带用于将多个待测样品传送至所述样品盘上。

3.根据权利要求1所述的基于多探测器的X射线检测系统，其特征在于：所述第二传送装置包括第二传送带，所述第二传送带穿过所述测试区，所述第二传送带能够将所述样品盘传送至所述测试区进行X射线成像检测后再传送出所述测试区。

4.根据权利要求1所述的基于多探测器的X射线检测系统，其特征在于：所述测试区由防辐射铅板围成。

5.根据权利要求3所述的基于多探测器的X射线检测系统，其特征在于：所述X射线源位于所述第二传送带上方，所述多探测器模组位于所述第二传送带下方并正对于所述X射线源。

6.根据权利要求1所述的基于多探测器的X射线检测系统，其特征在于：还包括计算机，所述多探测器模组与所述计算机电连接，所述计算机用于处理所述多探测器模组收集的样品信息以得出样品缺陷信息。

7.一种基于多探测器的X射线检测方法，其特征在于，采用权利要求1～6中任意一项所述的基于多探测器的X射线检测系统，包括以下步骤：

S1：通过所述第一传送装置将待测样品传送至匀速旋转的所述样品盘上，使多个待测样品规整摆放在所述样品盘上；

S2：通过所述机械手将规整摆放好待测样品的所述样品盘转移至所述第二传送装置上，通过所述第二传送装置将所述样品盘传送至所述测试区；

S3：所述X射线源产生X射线，照射到所述样品盘上的各待测样品，并通过所述多探测器模组同时拍照收集各待测样品的信息，对各待测样品同时进行X射线成像检测。

8.根据权利要求7所述的X射线检测方法，其特征在于：所述多探测器模组将收集的各待测样品的信息传输至计算机，经所述计算机处理，得到各待测样品的缺陷检测结果。

9.根据权利要求8所述的X射线检测方法，其特征在于：所述缺陷检测结果按照所述样品盘及其上的样品排列情况排序，对存在问题的样品，所述计算机会作出标记，以挑拣出进行妥善处理；对检测合格的样品，继续进行出厂前的后续工序。