[发明专利]一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置及试验方法

权利要求书

1.一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：包括试验模块(1)、激振器(2)、试验支撑架(3)、底座(4)和处理器，所述试验模块(1)设置在试验支撑架(3)上端，所述试验支撑架(3)设置在底座(4)上端面，所述激振器(2)置于底座(4)上端面并与试验模块(1)相连，所述处理器与试验模块(1)电连接；所述试验模块(1)包括声子晶体试验件(6)、试验模块承载板(7)、试验件围栏(9)和加速度传感器，所述试验模块承载板(7)下端面与试验支撑架(3)相连，所述试验模块承载板(7)的上端设置试验件围栏(9)并在试验件围栏(9)两侧设置加速度传感器，所述试验件围栏(9)内根据实验需要排布设置多个声子晶体试验件(6)，所述加速度传感器用于感应声子晶体试验件(6)的振动并将信号并传递给处理器；

它包括以下步骤：

S1：梳理试验目的及试验工况，明确试验对象的边界条件，确定试验件结构尺寸及其排布形式：

S2：按照边界条件的要求连接试验模块(1)和试验支撑架(3)，连接激振器(2)与试验模块(1)，将声子晶体试验件(6)安装于试验件围栏(9)中并利用粘合剂进行固定；

S3：根据试验目的不同，激振器(2)发出相应激励并通过加速度传感器拾取声子晶体试验件(6)响应传递给处理器分析；

S4：处理器分析声子晶体试验件(6)结构的带隙特性及减振效果并输出结果；

S5：通过解胶剂更换声子晶体试验件(6)或改变其排列形式，重复S3和S4的内容，完成所有试验内容。

2.根据权利要求1所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述试验模块承载板(7)上设置多个沿宽度方向均匀布置的激振器连接孔(5)，所述激振器(2)上设有激振杆，所述激振杆与任一激振器连接孔(5)相连。

3.根据权利要求2所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述试验模块承载板(7)上端面周侧边缘位置设置多个螺栓孔(8)。

4.根据权利要求3所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述试验模块承载板(7)上端面上设置两组相较于试验件围栏(9)呈左右对称的传感器布置点(10)，每组传感器布置点(10)内设置多个沿宽度方向布置的传感器布置点(10)，所述加速度传感器根据试验需要安装在相应的传感器布置点(10)内。

5.根据权利要求4所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述试验支撑架(3)设置有两个，两个所述试验支撑架(3)左右对称的设置在试验模块(1)两侧。

6.根据权利要求5所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述试验支撑架(3)包括顶部螺栓孔(11)、支撑架主体(12)和底部螺栓孔(15)，所述顶部螺栓孔(11)和底部螺栓孔(15)分别设置在支撑架主体(12)的上端和下端，所述试验模块承载板(7)和支撑架主体(12)通过每个螺栓孔(8)和相应位置的顶部螺栓孔(11)一一对位后穿入螺栓固定。

7.根据权利要求6所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述支撑架主体(12)上开设减轻孔(13)。

8.根据权利要求6所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述支撑架主体(12)下部设有弯折处并在折弯处设置加强肘板(14)。

9.根据权利要求6所述的一种用于测试声子晶体振动特性的试验装置的使用方法，其特征在于：所述底座(4)包括多个底座螺栓孔(16)和一个底座主体(17)，多个所述底座螺栓孔(16)设置在底座主体(17)上端面上并与底部螺栓孔(15)一一对应，所述支撑架主体(12)和底座主体(17)通过每个底部螺栓孔(15)与对应位置的底座螺栓孔(16)一一对位后穿入螺栓固定。