[发明专利]一种老化板上集成电路的夹取装置

说明书

本发明提供一种老化板上集成电路的夹取装置，它包括架体（1），其特征在于：在架体（1）上连接有若干连杆（2），在其中一个连杆（2）上穿设有可移动的第一夹杆（3）和第二夹杆（4），在第一夹杆（3）和第二夹杆（4）与架体（1）之间的连杆（2）杆身上均套设有对应配合的弹簧（10），第一夹杆（3）和第二夹杆（4）中部通过铰接轴（5）铰接在一起形成剪式结构，在铰接轴（5）上连接有提拉架（6），在架体（1）顶部铰接有压杆（7），压杆（7）的一端端部与提拉架（6）铰接。本发明结构简单，使用方便，能轻松夹取电路，且不损伤电路表面也不损伤电路管腿。

技术领域：

本发明涉及集成电路老化后试验领域，具体地说就是一种老化板上集成电路的夹取装置。

背景技术：

老化试验的目的是为了筛选或剔除那些勉强合格的集成电路。这些器件或是本身具有固有的缺陷，或其制造工艺控制不当产生缺陷，这些缺陷会造成与时间和应力有关的失效。如不进行老化试验，这些有缺陷的集成电路在使用条件下会出现初期致命失效或早期寿命失效。

所以现在所有集成电路尤其是对应用在恶劣环境内，并长时间工作的集成电路进行筛选试验时，必须进行老化试验。老化试验需要将集成电路放入专用的老化板夹具中，用最大额定工作条件或在最大额定工作条件之上对电路施加应力。不同尺寸的电路都要进行老化试验，试验人员需要耗很多时间将集成电路从老化板上夹取下来，有时由于夹取时的角度问题，在取下的瞬间常常会损伤集成电路的引脚或外壳。

发明内容：

本申请就是为了克服现有技术中的不足，提供一种老化板上集成电路的夹取装置。

本申请提供以下技术方案：

一种老化板上集成电路的夹取装置，它包括门型的架体，其特征在于：在架体上连接有若干连杆，在其中一个连杆上穿设有可活动的第一夹杆和第二夹杆，在第一夹杆和第二夹杆与架体之间的连杆杆身上均套设有对应配合的弹簧，第一夹杆和第二夹杆中部通过铰接轴铰接在一起形成剪式结构，在铰接轴上连接有提拉架，在架体顶部铰接有压杆，压杆的一端端部与提拉架铰接，在另一个连杆上活动连接有一端与第一夹杆和第二夹杆对应配合的压块，在压块上连接有拉杆。

在上述技术方案的基础上，还可以有以下进一步的技术方案：

在所述第一夹杆和第二夹杆一端端部均设有与连杆对应配合的第一长条孔。

所述第一夹杆和第二夹杆上延伸出与集成电路对应配合的凸台。

所述的提拉架包括梁，在梁中部连接有与压杆的一端端部的长条孔配合连接的铰接座，在梁两端端部向下延伸出竖板，在竖板下端部与铰接轴连接配合， 在竖板上设有第二长条孔，所述拉杆一端从第二长条孔中伸出一段长度。

在所述压块上设有与另一个连杆对应配合第三长条孔，在压块下端端部上设有一对与第一夹杆和第二夹杆对应配合的斜边，使得压块下端端部成楔形结构。

所述的第一夹杆、第二夹杆和压块均是由聚酰胺66或聚甲醛材料制成。从而使得第一夹杆、第二夹杆和压块具有机械强度、刚度、硬度、韧性高、耐高温、耐老化性能好，机械减震能力好，并具有良好的滑动性、耐磨性、机械加工性的优点。

发明优点：

本发明结构简单，使用方便，能从纵向将经过老化试验的集成电路从老化板上取下，夹取过程简便快捷，提升了效率同时避免了现有技术中夹取时对集成电路表面和引脚损伤的情况。

附图说明：

图1是本发明的结构示意图；

图2是图1中的A向放大图。

具体实施方式：

如图1和2所示，一种老化板上集成电路的夹取装置，它包括一个有两个支撑杆1a和横梁1b构成的门型的架体1。在两个支撑杆1a之间连接有一组连杆2，一组连杆2为三根分上、中、下三层分布在架体1上。