[发明专利]灯具寿命预测方法、装置、设备及存储介质

说明书

本申请提供一种灯具寿命预测方法、装置、设备及存储介质，方法包括：S1、获取灯具的热阻值、已工作时长、工作环境温度以及工作电流；S2、根据所述热阻值、所述工作环境温度以及所述工作电流，确定所述灯具的工作结温；S3、根据所述已工作时长以及所述工作结温，确定所述灯具在标准结温下的标准工作时长；S4、根据所述标准工作时长以及所述灯具在标准结温下的额定工作时长，确定所述灯具的剩余使用时长。本申请首先确定灯具的工作结温，再基于工作结温确定灯具在标准结温下的标准工作时长，进而确定灯具的剩余使用时长，可以使得剩余使用时长的确定结果更加准确，从而提高灯具寿命预测结果的准确性和可靠性。

技术领域

本申请涉及照明灯具技术领域，尤其涉及一种灯具寿命预测方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

近年来，半导体照明在工业领域和日常生活中的应用越来越广泛，发光二极管(Light Emititing Diode，简称LED)是一种电子发光的半导体发光器件，属于新型固态冷光源，具有电压驱动低、能效高、寿命长和成本低等优点。

随着LED技术的发展，在LED的研发中有一不可忽视的限制因素，即其实际寿命与理论值的差距。因此，进行相应的寿命试验，并根据LED的各项指标来估计LED的寿命，提高其可靠性，延长其使用周期成为一种必要测量，如何准确的预测LED灯具寿命也成为一项重要的课题。

在背景技术中公开的上述信息仅用于加强对本申请的背景的理解，因此其可能包含没有形成为本领域普通技术人员所知晓的现有技术的信息。

发明内容

本申请提供一种灯具寿命预测方法、装置、设备及存储介质，用以解决现有技术存在的问题。

第一方面，本申请提供一种灯具寿命预测方法，包括：

S1、获取灯具的热阻值、已工作时长、工作环境温度以及工作电流；

S2、根据所述热阻值、所述工作环境温度以及所述工作电流，确定所述灯具的工作结温；

S3、根据所述已工作时长以及所述工作结温，确定所述灯具在标准结温下的标准工作时长；

S4、根据所述标准工作时长以及所述灯具在标准结温下的额定工作时长，确定所述灯具的剩余使用时长。

在一些实施例中，S2中，通过以下公式计算所述灯具的工作结温；

PD＝VF×IF

其中，TJ表示所述灯具的工作结温，TA表示所述工作环境温度，PD表示所述灯具的功耗，RJA表示所述灯具的热阻值，VF表示所述灯具的正向压降，IF表示所述灯具的工作电流。

在一些实施例中，所述S3，包括：

S31、根据所述已工作时长以及所述工作结温，确定所述灯具的当前照度；

S32、根据所述灯具的光衰曲线，确定所述灯具在标准结温下与所述当前照度相匹配的工作时长为所述标准工作时长。

在一些实施例中，S4，包括：

S41、计算所述灯具在标准结温下的额定工作时长与所述标准工作时长的时间差；

S42、确定所述时间差为所述灯具的剩余使用时长。

在一些实施例中，还包括：

S5、当所述灯具的剩余使用时长小于预设时长时，输出灯具更换提示信息。

第二方面，本申请提供一种灯具寿命预测装置，包括：

获取模块，用于获取灯具的热阻值、已工作时长、工作环境温度以及工作电流；