[发明专利]基于ICP技术的元素检测方法在审
| 申请号： | 202211135031.9 | 申请日： | 2022-09-19 |
| 公开（公告）号： | CN115656408A | 公开（公告）日： | 2023-01-31 |
| 发明（设计）人： | 洪波;陈纯;俞晓峰;喻正宁;林鼎乘;许艇;韩双来;张家豪 | 申请（专利权）人： | 杭州谱育科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N30/86 | 分类号： | G01N30/86 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 311305 浙江省杭州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 icp 技术 元素 检测 方法 | ||
1.基于ICP技术的元素检测方法，所述基于ICP技术的元素检测方法包括以下步骤：
(A1)建立(r+1)行m列的样本矩阵X，其中r行对应已知样本，Xt行对应待测样本，m为每一个训练样本的特征数，矩阵X的元素Xij为样本的特征参数，i＝1,2…(r+1)，j＝1,2…m；
(A2)得到所述矩阵X中各元素之间的距离矩阵L，矩阵X中每一元素做平方，得到矩阵矩阵每行求和，并将该(r+1)阶列向量按(r+1)列扩张，得到(r+1)行(r+1)列矩阵
(A3)得到各样本点之间的全概率p，选择因子
(A4)建立(r+1)行3列三维空间矩阵Z；
(A5)利用步骤(A2)方式得到与矩阵Z对应的距离矩阵M；
建立代价函数
(A6)优化所述代价函数，得到更新后的矩阵Z；
(A7)进入步骤(A5)-(A6)多次迭代，从而将所述矩阵X一一映射到空间矩阵Z，Zt行对应待测样本，其它r行对应已知样本；
(A8)分别计算空间矩阵Z中已知样本点与待测样本点的距离，如果距离小于阈值，将该已知样本点对应的行以及Zt行放到矩阵Q；
(A9)求解Y＝Qβ，Y为包含已知样本和待测样本的各种待测元素含量的矩阵，从而得到待测样本的各待测元素的含量。
2.根据权利要求1所述的基于ICP技术的元素检测方法，其特征在于，m＝a×b，a为待测元素数量，b为每种待测元素选择的特征波长数量，所述特征参数是特征波长处的光强。
3.根据权利要求2所述的基于ICP技术的元素检测方法，其特征在于，所述选择因子处于10到50之间。
4.根据权利要求1所述的基于ICP技术的元素检测方法，其特征在于，在步骤(A6)中，利用梯度下降法优化代价函数。
5.根据权利要求1所述的基于ICP技术的元素检测方法，其特征在于，迭代次数小于500。
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