[发明专利]一种高速激光器及其制作方法在审

专利信息
申请号: 202211103499.X 申请日: 2022-09-09
公开(公告)号: CN116316069A 公开(公告)日: 2023-06-23
发明(设计)人: 潘钺;刘应军;刘陆萌;易美军 申请(专利权)人: 武汉敏芯半导体股份有限公司
主分类号: H01S5/30 分类号: H01S5/30;H01S5/343;H01S5/12
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 42102 代理人: 许美红
地址: 430014 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 高速 激光器 及其 制作方法
【权利要求书】:

1.一种高速激光器,其特征在于,包括衬底以及位于衬底上方的有源层,有源层包括下限制层、量子阱层和上限制层;有源层两侧分别为P型InP层和N型InP层,共同形成横向p-i-n结;P型InP层上方为P型InGaAs层,P型InGaAs层上方为P型电极层,N型InP层上方为N型电极层,横向注入电流;

有源层上方为光栅层,表面光栅周期设计为激射波长与增益谱峰值波长具有负的失谐,失谐量为10-20nm。

2.根据权利要求1所述的高速激光器,其特征在于,横向p-i-n结两侧为本征InP层,光栅层以及两侧的本征InP层上方均为氧化层。

3.根据权利要求2所述的高速激光器,其特征在于,氧化层为SiO2层。

4.根据权利要求1所述的高速激光器,其特征在于,衬底为半绝缘InP衬底,量子阱层为AlGaInAs多量子阱层。

5.根据权利要求1所述的高速激光器,其特征在于,表面光栅为InP基光栅或硅基光栅。

6.一种高速激光器的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

在衬底上选择区域外延生长不掺杂的有源层,有源层包括下限制层、量子阱层以及上限制层;

二次外延生长不掺杂的InP层于有源层的两侧及上方,并分别通过Zn热扩散和Si离子注入,在有源区的两侧形成P-InP和N-InP区域,形成横向p-i-n结;

在P-InP上方选择区域生长重掺杂的P-InGaAs层;

在有源层上方的InP层制作表面光栅,表面光栅周期设计为激射波长与增益谱峰值波长具有负的失谐,失谐量为10-20nm;

在P-InGaAs层和N-InP层上方分别蒸镀P型电极和N型电极。

7.根据权利要求6所述的高速激光器,其特征在于,Zn热扩散和Si离子注入的掺杂浓度为5e17-1e18cm-3,P-InGaAs的掺杂浓度为2e19cm-3

8.根据权利要求6所述的高速激光器,其特征在于,通过电子束曝光EBL在有源层上方的InP层形成表面光栅后,采用PECVD沉积一层SiO2作为钝化膜。

9.一种高速激光器的制作方法,其特征在于,包括以下步骤:

在衬底上选择区域外延生长不掺杂的有源层,有源层包括下限制层、量子阱层以及上限制层;

二次外延在有源区的两侧生长N-InP;

通过光刻刻蚀工艺去除有源区某一侧的N-InP,第三次外延在有源区此侧生长P-InP,形成横向p-i-n结;

在P-InP上方选择区域生长重掺杂的P-InGaAs层;

在有源层上方制作表面光栅,表面光栅周期设计为激射波长与增益谱峰值波长具有负的失谐,失谐量为10-20nm;

在P-InGaAs层和N-InP层上方分别制作P型电极和N型电极。

10.根据权利要求9所述的高速激光器,其特征在于,采用ALD在光栅上沉积一层SiO2作为钝化膜。

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