[发明专利]一种大跨度多光轴平行性测试装置以及测试方法

权利要求书

1.一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，包括：

待测光电系统(17)，所述待测光电系统(17)包括至少两个待测负载；

发射单元，所述发射单元用于向平行光管(3)发射第一光束；

平行光管(3)，所述平行光管(3)具有物镜，所述物镜能够将所述第一光束反射，形成第二光束；所述第二光束能够入射至所述待测光电系统(17)中的任一待测负载上；

标定单元，所述标定单元位于所述平行光管(3)与待测光电系统(17)之间；所述标定单元包括第一待标定镜组、第二待标定镜组和反射镜组；

若所述第一待标定镜组接收到第二光束，并能够将其沿入射光路反射回所述发射单元处，则第一待标定镜组中形成第一标定位置；

所述第二待标定镜组包括白板(13)，若所述白板(13)能够接收所述第一待标定镜组出射的光束与其经由第二待标定镜组出射的光束，且两光束光斑重合，则此时第二待标定镜组中形成第二标定位置；

所述反射镜组包括第一反射镜(15)与第二反射镜(14)，且两者分别设于第一标定位置与第二标定位置处；所述第一反射镜(15)与第二反射镜(14)配合，用于向另一待测负载出射与第二光束平行的光束，从而使两个待测负载能够接收到相互平行的光束。

2.根据权利要求1所述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，所述第一待标定镜组包括：

第一调节支架(4)，所述第一调节支架(4)为所述第一标定位置；

分光镜(5)，所述分光镜(5)设置于所述第一调节支架(4)上；所述分光镜(5)用于接收所述第二光束；

第二调节支架(6)，所述第二调节支架(6)设置于第一调节支架(4)远离平行光管(3)的一侧；

第一棱镜(7)，所述第一棱镜(7)设置于所述第二调节支架(6)上；所述第一棱镜(7)用于接收分光镜(5)的透射光束；

第三调节支架(8)，所述第三调节支架(8)沿垂直于所述第一调节支架(4)与第二调节支架(9)之间的连线设置；

第三反射镜(9)，所述反射镜(9)设置于所述第三调节支架(8)上；所述第三反光镜(9)用于接收分光镜(5)与第一棱镜(7)的反射光束，且将两光束沿其入射光路反射回发射单元。

3.根据权利要求2所述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，所述第二待标定镜组还包括：

第四调节支架(10)，所述第四调节支架(10)设置于所述分光镜(5)的反射光路上；所述第四调节支架(10)为第二标定位置；

第二棱镜(11)，所述第二棱镜(11)设置于所述第四调节支架(10)上；所述第二棱镜(11)能够接收所述分光镜(5)的反射光束且能够将其反射至所述白板(13)上；

第五调节支架(12)，所述第五调节支架(12)设置于第二棱镜(11)的出射光路上，所述第五调节支架(12)用于承载所述白板(13)。

4.根据权利要求3所述的一种大跨度多光轴平行性测试装置，其特征在于，所述发射单元包括：

激光发射器(1)，所述激光发射器(1)用于发射第一光束；

圆孔靶(2)，所述圆孔靶(2)与所述激光发射器(1)对应设置；所述第一光束经由所述圆孔靶(2)入射至所述平行光管(3)。