[发明专利]连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法及系统在审
| 申请号： | 202211095532.9 | 申请日： | 2022-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN116303735A | 公开（公告）日： | 2023-06-23 |
| 发明（设计）人： | 陈占胜;方厚招;曲耀斌;成飞;任三孩;陈力;陈修桥;邓武东;黄业平;刘政 | 申请（专利权）人： | 上海卫星工程研究所;中国人民解放军63921部队 |
| 主分类号： | G06F16/26 | 分类号： | G06F16/26;G01B21/32;G06F17/18 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 韩成玲 |
| 地址： | 200240 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 连续 轨标校 测量 数据 拟合 使用方法 系统 | ||
1.一种连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法，其特征在于，包括以下步骤：
步骤S1：将连续在轨标校测量数据图形化处理，获取长时间角度测量曲线；
步骤S2：根据长时间角度测量曲线确定采样点的插值参数；
步骤S3：根据确定的采样点插值参数获取插值曲线；
步骤S4：重复步骤S1-步骤S3进行多次测量获取多个插值曲线；
步骤S5：将多次测量获取的插值曲线进行拟合，得到最终大样本插值曲线。
2.根据权利要求1所述的连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法，其特征在于：所述步骤S1包括：通过在轨标校设备以预定的频率采集离散的角度数据，采用MATLAB将离散的点进行曲线拟合连接成角度测量曲线。
3.根据权利要求1所述的连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法，其特征在于：所述步骤S2中的插值参数为角度测量曲线峰峰值的平均值。
4.根据权利要求1所述的连续在轨标校测量数据拟合插值使用方法，其特征在于：所述拟合过程包括：将多个插值曲线的插值参数按照其时间顺序利用MATLAB软件进行拟合，获取大样本插值曲线。
5.一种连续在轨标校测量数据拟合插值使用系统，其特征在于，包括以下模块：
模块M1：将连续在轨标校测量数据图形化处理，获取长时间角度测量曲线；
模块M2：根据长时间角度测量曲线确定采样点的插值参数；
模块M3：根据确定的采样点插值参数获取插值曲线；
模块M4：重复执行模块M1-模块M3进行多次测量获取多个插值曲线；
模块M5：将多次测量获取的插值曲线进行拟合，得到最终大样本插值曲线。
6.根据权利要求5所述的连续在轨标校测量数据拟合插值使用系统，其特征在于：所述模块M1包括：通过在轨标校设备以预定的频率采集离散的角度数据，采用MATLAB将离散的点进行曲线拟合连接成角度测量曲线。
7.根据权利要求5所述的连续在轨标校测量数据拟合插值使用系统，其特征在于：所述模块M2中的插值参数为角度测量曲线峰峰值的平均值。
8.根据权利要求5所述的连续在轨标校测量数据拟合插值使用系统，其特征在于：所述拟合过程包括：将多个插值曲线的插值参数按照其时间顺序利用MATLAB软件进行拟合，获取大样本插值曲线。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海卫星工程研究所;中国人民解放军63921部队，未经上海卫星工程研究所;中国人民解放军63921部队许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
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