[发明专利]电流调节电路、LED照明系统及其控制方法在审

专利信息
申请号: 202211073487.7 申请日: 2022-09-02
公开(公告)号: CN115996498A 公开(公告)日: 2023-04-21
发明(设计)人: 刘国强;何颖彦 申请(专利权)人: 杰华特微电子股份有限公司
主分类号: H05B45/30 分类号: H05B45/30;H05B45/50;H05B45/10
代理公司: 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 代理人: 蔡纯
地址: 310030 浙江省杭州市西湖区三墩镇*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 电流 调节 电路 led 照明 系统 及其 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种用于多种调光模式的电流调节电路,包括:

第一电流控制模块,用于根据直流输入电压的比例信号或负载的端电压产生第一下凹波形的驱动信号;以及

第一晶体管,与所述第一电流控制模块相连接,用于根据所述驱动信号产生第二下凹波形的负载电流,

其中,所述第一电流控制模块在所述多种调光模式下生成控制负载电流的基准信号,根据所述基准信号调节所述负载电流的第二下凹波形形状。

2.根据权利要求1所述的电流调节电路,其中,所述多种调光模式包括采用可控硅调光器的可控硅调光模式、采用开关作为调光器的开关调光模式、以及采用可控硅调光器和开关二者作为调光器的混合调光模式。

3.根据权利要求2所述的电流调节电路,其中,在所述可控硅调光模式和所述混合调光模式下,所述第一电流控制模块根据可控硅的导通角来调节所述第二下凹波形的幅值和/或下凹程度。

4.根据权利要求2所述的电流调节电路,其中,在所述开关调光模式和所述混合调光模式下,所述第一电流控制模块根据所述开关的开关次数计数值来调节所述第二下凹波形的幅值和/或下凹程度。

5.根据权利要求2所述的电流调节电路,其中,所述第一电流控制模块包括:

开关检测模块,用于检测开关的开关动作;

计数器,与所述开关检测模块相连接以接收所述开关动作的检测信号,用于按照控制逻辑根据开关次数产生计数值;

基准产生模块,与所述计数器相连接以接收所述计数值,用于将所述计数值转换成所述基准信号;以及

下凹控制模块,与所述基准产生模块相连接以接收所述基准信号,用于产生第三下凹波形的控制信号,以及,根据所述基准信号调节所述控制信号的幅值和/或下凹程度。

6.根据权利要求5所述的电流调节电路,其中,所述第三下凹波形和所述第二下凹波形同比例变化。

7.根据权利要求5所述的电流调节电路,还包括:

基准检测模块,与所述基准产生模块相连接以接收所述基准信号,根据所述基准信号判断所述LED灯的调光范围;

下凹系数产生模块,与所述基准检测模块相连接,根据所述LED灯的调光范围提供相应的下凹系数,

其中,所述下凹控制模块接收所述下凹系数,并且根据所述下凹系数控制所述下凹波形的下凹程度。

8.根据权利要求7所述的电流调节电路,其中,在所述LED灯的调光范围大于等于预定值的情形下,所述下凹系数产生模块提供固定值的下凹系数,

在所述LED灯的调光范围小于所述预定值的情形下,所述下凹系数产生模块提供动态调节的下凹系数。

9.根据权利要求8所述的电流调节电路,其中,所述下凹系数随着所述基准电压的减小而减小。

10.根据权利要求5所述的电流调节电路,还包括:

导通角检测模块,所述导通角检测模块用于检测可控硅的导通角是否小于预定值,

其中,在所述可控硅的导通角大于等于所述预定值的情形下,所述计数器采用固定值的计数步长进行计数,

在所述可控硅的导通角小于所述预定值的情形下,所述计数器采用动态调节的计数步长进行计数。

11.根据权利要求10所述的电流调节电路,其中,所述计数步长随着所述可控硅的导通角的减小而增加。

12.根据权利要求5所述的电流调节电路,其中,所述下凹控制模块包括:

下凹补偿模块,用于根据所述直流输入电压的电压采样信号或负载端电压获得相应的比例信号;

反馈补偿模块,用于根据所述负载电流的采样信号相对于所述基准信号的误差产生补偿电压;以及

计算模块,与所述下凹补偿模块相连接以接收所述比例信号,与所述反馈补偿模块相连接以接收所述补偿电压,所述计算模块根据计算所述补偿电压与所述比例信号的差值以获得所述控制信号。

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