[发明专利]基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法在审
| 申请号: | 202211072177.3 | 申请日: | 2022-09-02 |
| 公开(公告)号: | CN115423838A | 公开(公告)日: | 2022-12-02 |
| 发明(设计)人: | 余航;刘志恒;孙逸博;蒋浩然;周绥平 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
| 主分类号: | G06T7/187 | 分类号: | G06T7/187;G06V10/762;G06V10/54;G06V10/56;G06V10/74;G06V20/13 |
| 代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 陈宏社;王品华 |
| 地址: | 710071*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 slic 像素 sar 图像 特征 区域 合并 方法 | ||
1.一种基于SLIC超像素的SAR图像多特征区域合并方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)采用SLIC超像素算法对SAR图像进行分割:
输入一幅大小为m×n的SAR图像,采用简单线性迭代聚类SLIC超像素算法对该SAR图像进行分割,得到K个超像素S={S1,S2,...,Sk,...,SK},其中,p为预设的超像素大小,20≤p≤25,Sk表示包含Qk个像素且周长为λk的第k个超像素;
(2)设迭代次数为num,并令num=0;
(3)提取每个超像素的灰度特征和纹理特征:
提取每个超像素Sk包括b个灰度级的灰度直方图Hk,将Hk作为超像素Sk的灰度特征,得到K个超像素Sk对应的灰度特征集合H={H1,H2,...,Hk,...,HK},同时通过灰度共生矩阵提取每个超像素Sk的纹理特征Tk={Rk,Ek,Dk},得到K个超像素Sk对应的纹理特征集合T={T1,T2,...,Tk,...,TK},其中,Rk、Ek、Dk分别表示Sk的对比度、能量、熵;
(4)获取每两个相邻超像素之间的相似性系数:
(4a)计算每两个超像素Si与Sj之间的灰度特征相似性系数GHi,j、纹理特征相似性系数GTi,j,并通过GHi,j和GTi,j计算Si与Sj之间的相似性系数Gi,j:
Gi,j=α(GHi,j+GTi,j)
其中,i∈[1,K],j∈[1,K],且i≠j,α表示相邻因子,βi表示第i个超像素Si的归一化系数,Hi(f)表示第i个超像素Si的灰度直方图Hi第f个区间的值,GRi,j、GEi,j、GDi,j分别表示每两个超像素Si与Sj之间的对比度相似性系数、能量相似性系数和熵相似性系数,ω1、ω2、ω3分别表示GRi,j、GEi,j、GDi,j的权重;
(4b)将K个超像素S中U个相邻的超像素的相似性系数组合为相邻超像素对相似性系数集合G={G1,G2,...,Gu,...,GU};
(5)确定待合并的超像素对:
采用k均值聚类算法kmeans将相邻超像素对相似性系数集合G聚为c类,并计算每一类的平均相似性系数,然后将平均相似性系数最小的一类包含的Y个相邻超像素对相似性系数X={G1,G2,...,Gy,...,GY}对应的相邻超像素对O={W1,W2,...,Wy,...,WY}作为待合并的超像素对;
(6)计算每个待合并超像素对的合并指数:
计算每个待合并超像素对Wy的包围系数zy,并通过zy和Wy的相似性系数Gy计算Wy的合并指数Ay,得到合并指数集合A={A1,A2,...,Ay,...,AY},其中:
Ay=Gy×zy
其中,λρ和λτ分别表示相邻的超像素对Wy中两个超像素各自的周长,Δλy表示相邻超像素对Wy中两个超像素的公共周长;
(7)获取SAR图像多特征区域合并结果:
对合并指数集合A中指数值最小的相邻超像素对进行合并,判断num≥95%K是否成立,若是,输出包含5%K个新合并的超像素的SAR图像,否则令num=num+1,并执行步骤(3)。
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