[发明专利]计算温度场的方法及电子设备

权利要求书

1.一种计算温度场的方法，其特征在于，所述方法应用于设置有多个温度传感器的机房，所述多个温度传感器非均匀地设置在所述机房中的多列机柜上，所述机房中各列机柜的两端各设置有一个温度传感器，所述多个温度传感器排列为点阵，所述多列机柜上设置的温度传感器构成所述点阵的多个列，所述方法包括：

确定第一列的温度采样点的第一密度，所述第一列为所述点阵的任意一列；

根据第一温度传感器与第二温度传感器的第一间距和所述第一列的温度采样点的第一密度确定所述第一温度传感器和所述第二温度传感器之间的温度采样点的数量A，所述A为正整数，所述第一温度传感器和所述第二温度传感器为所述第一列的温度传感器中相邻的两个温度传感器；

根据所述第一温度传感器和所述第二温度传感器的温度值进行插值运算确定A个温度值；

确定第一行的温度采样点的第二密度，所述第一行为所述点阵的任意一行；

根据第一温度采样点与第二温度采样点的第二间距和所述第一行的温度采样点的第二密度确定所述第一温度采样点和所述第二温度采样点之间的温度采样点的数量B，所述B为正整数，所述第一温度采样点和所述第二温度采样点为所述第一行的温度采样点中相邻的两个温度采样点，所述第一温度采样点为所述多个温度传感器中的一个或所述插值运算得到的采样点，所述第二温度采样点为所述多个温度传感器中的一个或所述插值运算得到的采样点；

根据所述第一温度采样点和所述第二温度采样点的温度值进行插值运算确定B个温度值；

根据所述A个温度值和所述B个温度值确定所述机房的温度场。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述确定第一列的温度采样点的第一密度，包括：

获取所述机房的第一长度；

根据所述点阵的多个列确定多个第一数量，所述多个第一数量中每个第一数量为所述多个列中每列温度传感器采集的温度数据的个数；

计算所述多个第一数量的最小公倍数；

计算所述最小公倍数与所述第一长度的比值，得到所述第一列的温度采样点的第一密度。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定第一行的温度采样点的第二密度，包括：

获取所述机房的第二长度和分辨率数量，所述第一长度所在的方向与所述第二长度所在的方向垂直；

计算所述分辨率数量与所述最小公倍数的比值，得到单行温度数量；

计算所述单行温度数量与所述第二长度的比值，得到所述第一行的温度采样点的第二密度。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述多个温度传感器中位于所述机房的热通道处的温度传感器的数量大于或等于位于所述机房的冷通道处的温度传感器的数量。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述机房的热通道处的温度传感器位于所述机房中各列机柜背部在所述热通道一侧的最高温度处和最低温度处；所述机房的冷通道处的温度传感器位于所述机房中各列机柜背部在所述冷通道一侧的最高温度处。

6.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述插值运算为非线性插值运算。

7.一种电子设备，其特征在于，电子设备包括处理器和存储器，存储器用于存储计算机程序，处理器用于从存储器中调用并运行计算机程序，使得电子设备执行权利要求1至6中任一项所述的方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，计算机可读存储介质中存储了计算机程序，当计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行权利要求1至6中任一项所述的方法。