[发明专利]测试系统与方法、控制模块及可读存储介质

说明书

本申请公开了一种测试系统与方法、控制模块及可读存储介质，测试系统用于对待测试设备进行测试，测试系统包括控制模块、N个电源、第一开关模块、第二开关模块与M个用电设备，N个电源依次通过第一开关模块、待测试设备与第二开关模块连接至M个用电设备，第一开关模块包括N个第一开关支路，且N第一开关支路与N个电源一一对应，第二开关模块包括M个第二开关支路，且M个第二开关支路与M个用电设备一一对应。控制模块分别与第一开关支路及第二开关支路连接，控制模块用于获取待测试设备的类型，并根据待测试设备的类型控制第一开关支路与第二开关支路的通断。通过上述方式，能够实现对不同待测试设备进行ATE测试，实用性较强。

技术领域

本申请涉及测试技术领域，特别是涉及一种测试系统与方法、控制模块及可读存储介质。

背景技术

ATE(自动化测试设备)测试主要用于硬件设备的信号测试(如电压、电流、电阻等)。

这些被测设备种类繁多，遵循的标准规范各异。即便是同类被测设备，也存在不同厂家和不同型号之间的差异。因此，对于这些被测设备，虽然存在许多相同或相似的测试需求，但各自也有很多不同的特殊要求，致使目前的ATE测试都只能实现特定领域中的单个设备的测试，实用性较差。

发明内容

本申请旨在提供一种测试系统与方法、控制模块及可读存储介质，能够实现对不同待测试设备进行ATE测试，实用性较强。

为实现上述目的，第一方面，本申请提供一种测试系统，用于对待测试设备进行测试，所述测试系统包括：

N个电源、第一开关模块、第二开关模块与M个用电设备，所述N个电源依次通过第一开关模块、待测试设备与第二开关模块连接至M个用电设备；

其中，所述第一开关模块包括N个第一开关支路，且N第一开关支路与N个电源一一对应连接，所述第二开关模块包括M个第二开关支路，且M个第二开关支路与M个用电设备一一对应连接，N与M均为＞1的整数；

控制模块，所述控制模块分别与所述N个第一开关支路及所述M个第二开关支路连接，所述控制模块用于获取所述待测试设备的类型，控制模块还与待测试设备通讯连接，并根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断。

在一种可选的方式中，所述控制模块进一步用于：

若所述待测试设备的类型分别与第j个第一开关支路以及第k个第二开关支路对应，则控制所述第j个第一开关支路与第k个第二开关支路导通，并控制其他的第一开关支路与第二开关支路断开，其中，所述第j个第一开关支路为所述N个第一开关支路中的任一第一开关支路，所述第k个第二开关支路为所述M个第二开关支路中的任一第二开关支路，其中，j与k均为≥1的整数，且j≤N，k≤M。

在一种可选的方式中，所述第一开关支路与所述第二开关支路均包括两个开关；

所述第一开关支路中的第一个开关连接于对应电源的正输出端与待测试设备的正输入端之间，所述第一开关支路中的第二个开关连接于对应电源的负输出端与待测试设备的负输入端之间；

所述第二开关支路中的第一个开关连接于待测试设备的正输出端与对应用电设备的正输入端之间，所述第二开关支路中的第二个开关连接于待测试设备的负输出端与对应用电设备的负输入端之间

在一种可选的方式中，所述控制模块进一步用于：

根据所述待测试设备上的标记获取所述待测试设备的类型与机型；

获取第一测试指令；

若所述第一测试指令对应的类型与所获取的所述待测试设备的类型相同，且所述第一测试指令对应的机型与所获取的所述待测试设备的机型相同，则根据所述待测试设备的类型控制所述N个第一开关支路与所述M个第二开关支路的通断。