[发明专利]具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置

说明书

本发明公开了具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，包括底座，所述底座的台面上安装有导电托板，所述底座的台面通过立板安装顶板，所述顶板位于底座的台面上方，所述顶板上安装有控制器和电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的伸缩端安装有接线板，所述接线板上安装有两根导电柱，所述顶板上安装有电源箱，所述电源箱与接线板通过连接线相连接，当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板上，通过控制器控制电动伸缩杆运行，使电动伸缩杆带动接线板上的导电柱下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器控制电源箱启动，从而使电源箱为导电柱供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

技术领域

本发明涉及芯片耐电极值的检测装置技术领域，具体为具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置。

背景技术

半导体芯片是在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件；不只是硅芯片，常见的还包括砷化镓，锗等半导体材料,半导体芯片在生产后，需要工人对生产后的半导体芯片进行平整度测试及电特性的测试，以便于半导体芯片的后续使用，目前在对特定的半导体芯片进行平整度测试时，需要工人通过卡尺进行测量与评定，当平整度测试完成后将半导体芯片移送至电特性测试工作台。

现有的芯片耐电极值的检测装置多是通过工作人员手持检测装置对芯片进行检测，通过将检测装置的正、负接线柱与芯片的引脚相接触形成闭环电路，从而实现芯片耐电极值的检测，但人工操作劳动强度大，使得在手动将检测装置的正、负接线柱与芯片的引脚相接触时，会因为手抖造成检测时间延长，降低检测效率。

发明内容

本发明的目的在于提供具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置，该具有漏电检测保护功能的芯片耐电极值的检测装置包括底座，所述底座的台面上安装有导电托板，所述底座的台面通过立板安装顶板，所述立板上设置有漏电保护组件，所述顶板位于底座的台面上方，所述顶板上安装有控制器和电动伸缩杆，所述电动伸缩杆的伸缩端安装有接线板，所述接线板上安装有两根导电柱，所述顶板上安装有电源箱，所述电源箱与接线板通过连接线相连接，当进行芯片耐电极值检测时，将芯片放在导电托板上，通过控制器控制电动伸缩杆运行，使电动伸缩杆带动接线板上的导电柱下移与芯片上的引脚相接触，与此同时，控制器控制电源箱启动，从而使电源箱为导电柱供电，进行能实现自动化芯片耐电极值检测，能避免检测误差产生的同时提高检测效率。

作为优选技术方案，所述漏电保护组件包括开槽、第一固定杆、第一电磁块、第一滑孔、导电杆、第一支撑弹簧、第一推杆、第一移动板、移动杆、按压块；

所述立板上开设有开槽，所述开槽内固定安装有第一固定杆，所述第一固定杆上滑动安装有两个第一电磁块，所述第一电磁块上开设有第一滑孔，所述第一固定杆贯穿第一滑孔，两个所述第一电磁块通过第一支撑弹簧相连接，且第一电磁块远离开槽的一侧安装有导电杆，两个所述第一电磁块通过第一推杆与第一移动板相连接，所述第一推杆的两端与第一电磁块和第一移动板铰接，两根第一推杆呈“八”字状，所述第一移动板上安装有移动杆，所述移动杆远离第一移动板的端部安装有按压块，所述按压块位于电源箱的开关处下方，且按压块与电源箱的开关处于同一中心轴线上，当芯片在检测过程中发生漏电时，通过导电杆能够将电流对第一电磁块进行供电，两个第一电磁块通电后在磁力作用下相吸，从而压缩第一支撑弹簧进行相向移动，与此同时，两个第一电磁块在相向移动过程中能够通过第一推杆顶升第一移动板，第一移动板在上移过程中能够带动移动杆上移，从而使移动杆带动按压块上移，让按压块对电源箱的开关进行按压，使电源箱进行自动断电，从而可以实现漏电保护。

作为优选技术方案，当导电柱与导电托板上的芯片相接触时，第一电磁块通过导电杆与导电托板相接触，两个所述第一电磁块通电后分别为“一正一负”，当芯片在检测过程中发生漏电时，两个第一电磁块经过导电杆实现通电，两个第一电磁块能分别形成正极磁场和负极磁场，此时在异性磁场相吸的作用下，能实现两个第一电磁块相向运动。