[发明专利]针对FPGA综合工具的性能评估方法、装置和计算机设备

权利要求书

1.一种针对FPGA综合工具的性能评估方法，其特征在于，所述方法包括：

获取测试用例集合；

针对所述测试用例集合中的每个测试用例，采用待测FPGA综合工具对所述测试用例进行综合，得到所述待测FPGA综合工具对应的第一性能参数和第一待验证性能参数，以及采用参考FPGA综合工具对所述测试用例进行综合，得到所述参考FPGA综合工具对应的第二性能参数和第二待验证性能参数；

针对所述测试用例集合中的每个测试用例，基于第一测试参数对所述第一待验证性能参数进行测试验证，得到所述待测FPGA综合工具对应的第三性能参数，以及基于第二测试参数对所述第二待验证性能参数进行测试验证，得到所述参考FPGA综合工具对应的第四性能参数；其中，所述第一测试参数是基于所述第一待验证性能参数中的部分待验证性能参数确定的，所述第二测试参数是基于所述第二待验证性能参数中的部分待验证性能参数确定的；

根据所述第一性能参数、所述第二性能参数、所述第三性能参数和所述第四性能参数，对所述待测FPGA综合工具进行性能评估，确定所述待测FPGA综合工具的性能评估结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一性能参数、所述第二性能参数、所述第三性能参数和所述第四性能参数，对所述待测FPGA综合工具进行性能评估，确定所述待测FPGA综合工具的性能评估结果，包括：

计算由所述第一性能参数和所述第二性能参数确定的第一Frobenius范数；

计算由所述第三性能参数和所述第四性能参数确定的第二Frobenius范数；

若所述第一Frobenius范数和所述第二Frobenius范数满足预设的等效性条件，则确定所述待测FPGA综合工具的第一性能评估结果；其中，所述第一性能评估结果用于表征所述待测FPGA综合工具与所述参考FPGA综合工具之间具有等效性。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一性能参数、所述第二性能参数、所述第三性能参数和所述第四性能参数，对所述待测FPGA综合工具进行性能评估，确定所述待测FPGA综合工具的性能评估结果，包括：

计算由所述第一性能参数和所述第二性能参数确定的第一Frobenius范数；

比较所述第一性能参数和所述第二性能参数的大小，得到第一比较结果；

计算由所述第三性能参数和所述第四性能参数确定的第二Frobenius范数；

比较所述第三性能参数和所述第四性能参数的大小，得到第二比较结果；

若所述第一Frobenius范数、所述第一比较结果、所述第二Frobenius范数和所述第二比较结果满足预设的可替代性条件，则确定所述待测FPGA综合工具的第二性能评估结果；其中，所述第二性能评估结果用于表征所述待测FPGA综合工具与所述参考FPGA综合工具之间具有可替代性。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一性能参数包括所述待测FPGA综合工具综合所述测试用例所需的时间信息或所述待测FPGA综合工具综合所述测试用例所需的面积信息中的一种或多种；

所述第二性能参数包括所述参考FPGA综合工具综合所述测试用例所需的时间信息或所述参考FPGA综合工具综合所述测试用例所需的面积信息中的一种或多种；

所述第三性能参数包括在所述第一测试参数下所述测试用例测试通过的速度信息或在所述第一测试参数下所述测试用例测试通过的功耗信息中的一种或多种；

所述第四性能参数包括在所述第二测试参数下所述测试用例测试通过的速度信息或在所述第二测试参数下所述测试用例测试通过的功耗信息中的一种或多种。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一测试参数包括信号源的第一输出工作频率，所述第一输出工作频率为所述待测FPGA综合工具综合所述测试用例所需的速度信息；

所述第二测试参数包括信号源的第二输出工作频率，所述第二输出工作频率为所述参考FPGA综合工具综合所述测试用例所需的速度信息。