[发明专利]半导体装置、基板及半导体装置的制造方法在审
申请号: | 202210943543.1 | 申请日: | 2022-08-08 |
公开(公告)号: | CN116190322A | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 丹羽惠一 | 申请(专利权)人: | 铠侠股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/12 | 分类号: | H01L23/12;H01L23/48;H01L21/60 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 张轶楠;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 制造 方法 | ||
1.一种半导体装置,具备:
基板,其具有第1面、与所述第1面相反侧的第2面、设置在所述第1面上的多个导电连接部以及多个柱状电极,所述多个柱状电极设置为分别从多个所述导电连接部朝向所述第2面延伸,并具有锥形形状;和
半导体芯片,其具有与所述第1面相对向的第3面和多个连接凸块,所述多个连接凸块设置在所述第3面上,并分别与多个所述导电连接部电连接,
在供所述半导体芯片配置的所述第1面上的芯片区域中的第1区域配置的所述柱状电极具有与配置于所述芯片区域中的第2区域的所述柱状电极相反方向的锥形形状。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,
配置于所述第1区域的所述导电连接部的上表面具有平坦形状,
配置于所述第2区域的所述导电连接部的上表面具有凸形状。
3.根据权利要求1所述的半导体装置,
配置于所述第2区域的所述导电连接部具有与配置于所述第1区域的所述导电连接部不同的厚度。
4.根据权利要求3所述的半导体装置,
配置于所述第2区域的所述导电连接部比配置于所述第1区域的所述导电连接部厚。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,
所述导电连接部的厚度随着从所述第1区域朝向所述第2区域而变化。
6.根据权利要求1所述的半导体装置,
所述导电连接部具有与具有宽度从所述第1面朝向所述第2面变小的锥形形状的所述柱状电极的宽度相应的厚度。
7.根据权利要求1所述的半导体装置,
配置于所述第1区域的所述柱状电极具有宽度从所述第1面朝向所述第2面变大的锥形形状,
配置于所述第2区域的所述柱状电极具有宽度从所述第1面朝向所述第2面变小的锥形形状。
8.根据权利要求1所述的半导体装置,
配置于所述第1区域的所述柱状电极具有宽度从所述第1面朝向所述第2面变小的锥形形状,
配置于所述第2区域的所述柱状电极具有宽度从所述第1面朝向所述第2面变大的锥形形状。
9.根据权利要求1~8中任一项所述的半导体装置,
所述第1区域为芯片中心区域,
所述第2区域为芯片外周区域。
10.根据权利要求1~8中任一项所述的半导体装置,
所述第2区域为芯片角部区域,
所述第1区域为所述芯片区域中的所述芯片角部区域以外的区域。
11.根据权利要求1~8中任一项所述的半导体装置,
所述第1区域为芯片外周区域,
所述第2区域为芯片中心区域。
12.根据权利要求1~8中任一项所述的半导体装置,
所述第1区域和所述第2区域在与所述第1面平行的方向上排列配置。
13.一种基板,具备:
第1面;
与所述第1面相反侧的第2面;
设置在所述第1面上的多个导电连接部;以及
多个柱状电极,设置为分别从多个所述导电连接部朝向所述第2面延伸,并具有锥形形状,
在供半导体芯片配置的所述第1面上的芯片区域中的第1区域配置的所述柱状电极具有与配置于所述芯片区域中的第2区域的所述柱状电极相反方向的锥形形状。
14.一种半导体装置的制造方法,包括:
在以夹着绝缘层的方式层叠了第1布线层和第2布线层的层叠体上的第3区域形成从所述第2布线层侧将所述绝缘层贯通而到达所述第1布线层的第1孔,
在与所述第3区域不同的所述层叠体上的第4区域形成从所述第1布线层侧将所述绝缘层贯通而到达所述第2布线层的第2孔。
15.根据权利要求14所述的半导体装置的制造方法,
所述第1孔具有宽度从所述第2布线层朝向所述第1布线层变小的锥形形状,
所述第2孔具有宽度从所述第1布线层朝向所述第2布线层变小的锥形形状。
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