[发明专利]一种快速检验含超级电容主控板静态电流的电路及方法

说明书

本发明涉及电气设备技术领域，具体涉及一种快速检验含超级电容主控板静态电流的电路及方法，电路包括包括控制电路、采样电路、恒流源电路和开关电路，主控板正极供电端作为Vtest端，采样电路对Vtest端电压进行采样，恒流源电路的输出端与Vtest端连接，Vtest端通过开关电路与直流电源Vcc连接，采样电路输出端、恒流源电路使能端和开关电路控制端均与控制电路连接。本发明的有益技术效果包括：采用恒流源电路提供相当于正常情况下主控板的静态功耗的电流，通过检测超级电容的电压变化幅度，判断主控板静态功耗是否正常，不需要等待超级电容完成充电，显著的加快了主控板静态功耗检验的效率。

技术领域

本发明涉及电气设备技术领域，具体涉及一种快速检验含超级电容主控板静态电流的电路及方法。

背景技术

在主控板生产完成后需要测量主控板的静态功耗以判断主控板是否正常运行。当主控板电源电路上存在超级电容时，超级电容的充电电流为毫安级别且充电时间长，此时主控板静态功耗如果在微安级别则难以测出主控板静态功耗。现在生产中主要使用的方法分为以下几种：（1）等待超级电容充电完成，这种方法需要浪费大量时间，降低了生产效率；（2）等主控板功耗测试完成后再焊接超级电容，这种方法带入了手工焊接的风险，也增加了一道工序，并且浪费时间；（3）将超级电容与主控板分离，在主控板上预留接入超级电容的插座，超级电容与插头连接，功耗检测完成后插入超级电容。这种方法增加了主控板接口，对结构有较高的要求，增加物料成本。综上所述，现有方法都是通过结构或者工序上的改变来测试主控板静态功耗，均存在耗时的问题。因此仍然有必要研究如何判断超级电容在板时的静态功耗是否正常的解决方案。

发明内容

本发明所要解决的技术问题：目前判断含超级电容的主控板的静态功耗效率低的技术问题。提出了一种快速检验含超级电容主控板静态电流的电路及方法，能够提高含超级电容的主控板静态功耗是否正常的检验效率。

解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种快速检验含超级电容主控板静态电流的电路，包括控制电路、采样电路、恒流源电路和开关电路，所述主控板正极供电端作为Vtest端，所述采样电路对Vtest端电压进行采样，所述恒流源电路的输出端与Vtest端连接，所述Vtest端通过开关电路与直流电源Vcc连接，所述采样电路输出端、恒流源电路使能端和开关电路控制端均与控制电路连接。

作为优选，所述恒流源电路包括电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R6、电阻R7、电阻R8、电阻R9、运算放大器U1、运算放大器U2、开关U3、三极管Q5和MOS管Q1，直流电源Vcc经过电阻R1和电阻R2分压后连接到运算放大器U1的VIN+端，运算放大器U1及运输放大器U2的VDD端均与直流电源Vcc连接，运算放大器U1的VOUT端与三极管Q5的基极连接，三极管Q5的发射极经电阻R4接地，运输放大器U1的VIN-端经电阻R3与三极管Q5发射极连接，三极管Q5集电极经电阻R6与直流电源Vcc连接，三极管Q5集电极与运算放大器U2的VIN+端连接，运算放大器U2的VOUT端与MOS管Q1栅极连接，MOS管Q1源极经电阻R8与直流电源Vcc连接，运算放大器U2的VIN-端经电阻R7与MOS管Q1的源极连接，MOS管Q1的漏极与开关U3的NO端连接，开关U3的IN端与控制电路连接，开关U3的COM端与Vtest端连接。

作为优选，所述采样电路包括电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电容C1、电容C2、电容C13和AD采样芯片U4，Vtest端经电阻R10和电阻R11与AD采样芯片U4的AINP端连接，AD采样芯片U4的AINP端经电容C2接地，AD采样芯片U4的REFIN端经电容C1接地，AD采样芯片U4的GND端和AINN端均接地，AD采样芯片U4的REFOUT端与REFIN端连接，AD采样芯片U4的VDD端经电容C13接地，AD采样芯片U4的VDD端与直流电源Vcc连接，AD采样芯片U4的DRDY#DOUT端经电阻R12输出检测信号DOUT至控制电路，控制电路的时钟信号SCLK端经电阻R13与AD采样芯片U4的SCLK端连接。