[发明专利]一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法在审
| 申请号： | 202210895770.1 | 申请日： | 2022-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN115638745A | 公开（公告）日： | 2023-01-24 |
| 发明（设计）人： | 李文杰;李团兴;高兴宇;檀正东;邓仕超;黄扬 | 申请（专利权）人： | 桂林电子科技大学;深圳市艾贝特电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/25 | 分类号： | G01B11/25;G06T7/529 |
| 代理公司： | 桂林文必达专利代理事务所(特殊普通合伙) 45134 | 代理人： | 张学平 |
| 地址： | 541004 广西*** | 国省代码： | 广西;45 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 频率 相位 融合 反光 表面 三维 方法 | ||
1.一种基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，包括下列步骤：
投影仪投影多组三频外差的正弦条纹；
相机采集多组所述三频外差的正弦条纹的条纹图像；
基于相移法求解对每组所述条纹图像的折叠相位，并基于三频外差获取展开相位；
基于RANSAC三维点平面拟合找出高频组展开相位中的噪声点；
在低频组中计算所述噪声点的展开相位，并根据频率关系计算等效相位；
融合高频组和低频组的展开相位，并基于标定参数进行三维重构。
2.如权利要求1所述的基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，
所述三频外差的正弦条纹为竖条纹，投影的条纹每一列内像素的光强值都相同。
3.如权利要求1所述的基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，
折叠相位的计算过程具体为基于最小二乘法计算像素点的折叠相位。
4.如权利要求1所述的基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，
基于三频外差获取展开相位采用基于时间的相位展开方法，每点之间的计算相互独立。
5.如权利要求1所述的基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，
所述噪声点采用基于RANSAC三维点平面拟合从一组包含离群的被观测数据中估算，判断离群噪声点的准则是看各点到平面的距离，大于阈值则为离群点。
6.如权利要求1所述的基于多频率相位融合的高反光表面三维重构方法，其特征在于，
融合高频组和低频组的展开相位的过程中，以第1组高频率的三频外差为基础，高反光区域采用低频率的三频外差计算等效相位，从而实现相位融合。
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