[发明专利]一种晶棒切割调整方法及装置在审

专利信息
申请号: 202210858904.2 申请日: 2022-07-21
公开(公告)号: CN115091640A 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 赵元亚;吴琼琼;崔思远;金从龙 申请(专利权)人: 江西兆驰半导体有限公司
主分类号: B28D5/04 分类号: B28D5/04;B28D7/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 何世磊
地址: 330096 江西省南昌市南*** 国省代码: 江西;36
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摘要:
搜索关键词: 一种 切割 调整 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种晶棒切割调整方法,其特征在于,包括以下步骤:

根据晶棒的尺寸确定总切割进程;

将所述总切割进程分成等距的多个切分段,并计算出所述晶棒与各所述切分段对应的切分截面面积;

根据每个所述切分截面面积的大小,反比例对应调节各所述切分段的进给速率,并根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割,以得到衬底片;

对所述衬底片的表面进行WARP曲线测量,以得到与所述WARP曲线对应的多个WARP值,并判断各所述WARP值是否满足要求;

若否,对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数,所述切割参数至少包括所述进给速率。

2.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割的步骤还包括:

控制线网进行供线操作,当所述线网的供线长度达到第一预设长度时,控制所述线网进行回线操作,所述线网的回线长度为第二预设长度,所述第一预设长度大于所述第二预设长度;

以上述线网的共线操作和回线操作为一个循环,直到完成所述总切割进程。

3.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割的步骤还包括:

控制所述衬底片在靠近切割机的一侧移动时,沿切割线的方向进行往复摆动。

4.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数的步骤具体包括:

当所述衬底片的部分朝切割机一侧方向弯曲时,加快与弯曲部分对应的所述切分段的进给速率。

5.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数的步骤具体包括:

当所述衬底片的部分朝切割机一侧方向弯曲时,降低与弯曲部分对应的所述切分段的线速度。

6.根据权利要求2所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数的步骤具体包括:

当所述衬底片的部分朝切割机一侧方向弯曲时,降低所述第一预设长度。

7.根据权利要求3所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述得到衬底片的步骤之后,所述方法还包括:

对所述衬底片的面型进行测量;

当所述衬底片的单侧面型的凸出度超出预设值时,降低所述衬底片的摇摆速度。

8.一种晶棒切割调整装置,其特征在于,包括:

进程模块,用于根据晶棒的尺寸确定总切割进程;

切分模块,用于将所述总切割进程分成等距的多个切分段,并计算出所述晶棒与各所述切分段对应的切分截面面积;

切割模块,用于根据每个所述切分截面面积的大小,反比例对应调节各所述切分段的进给速率,并根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割,以得到衬底片;

第一测量模块,用于对所述衬底片的表面进行WARP曲线测量,以得到与所述WARP曲线对应的多个WARP值,并判断各所述WARP值是否满足要求;

调整模块,用于若所述WARP值不满足要求,对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数。

9.根据权利要求8所述的晶棒切割调整装置,其特征在于,所述切割模块还包括:

供线回线单元,用于控制线网进行供线操作,当所述线网的供线长度达到第一预设长度时,控制所述线网进行回线操作,所述线网的回线长度为第二预设长度,所述第一预设长度大于所述第二预设长度;

循环单元,用于以上述线网的共线操作和回线操作为一个循环,直到完成所述总切割进程。

10.根据权利要求8所述的晶棒切割调整装置,其特征在于,所述切割模块还包括:

摆动单元,用于控制所述衬底片在靠近切割机的一侧移动时,沿切割线的方向进行往复摆动。

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