[发明专利]一种晶棒切割调整方法及装置在审
| 申请号: | 202210858904.2 | 申请日: | 2022-07-21 |
| 公开(公告)号: | CN115091640A | 公开(公告)日: | 2022-09-23 |
| 发明(设计)人: | 赵元亚;吴琼琼;崔思远;金从龙 | 申请(专利权)人: | 江西兆驰半导体有限公司 |
| 主分类号: | B28D5/04 | 分类号: | B28D5/04;B28D7/00 |
| 代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 何世磊 |
| 地址: | 330096 江西省南昌市南*** | 国省代码: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 切割 调整 方法 装置 | ||
1.一种晶棒切割调整方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据晶棒的尺寸确定总切割进程;
将所述总切割进程分成等距的多个切分段,并计算出所述晶棒与各所述切分段对应的切分截面面积;
根据每个所述切分截面面积的大小,反比例对应调节各所述切分段的进给速率,并根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割,以得到衬底片;
对所述衬底片的表面进行WARP曲线测量,以得到与所述WARP曲线对应的多个WARP值,并判断各所述WARP值是否满足要求;
若否,对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数,所述切割参数至少包括所述进给速率。
2.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割的步骤还包括:
控制线网进行供线操作,当所述线网的供线长度达到第一预设长度时,控制所述线网进行回线操作,所述线网的回线长度为第二预设长度,所述第一预设长度大于所述第二预设长度;
以上述线网的共线操作和回线操作为一个循环,直到完成所述总切割进程。
3.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割的步骤还包括:
控制所述衬底片在靠近切割机的一侧移动时,沿切割线的方向进行往复摆动。
4.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数的步骤具体包括:
当所述衬底片的部分朝切割机一侧方向弯曲时,加快与弯曲部分对应的所述切分段的进给速率。
5.根据权利要求1所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数的步骤具体包括:
当所述衬底片的部分朝切割机一侧方向弯曲时,降低与弯曲部分对应的所述切分段的线速度。
6.根据权利要求2所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数的步骤具体包括:
当所述衬底片的部分朝切割机一侧方向弯曲时,降低所述第一预设长度。
7.根据权利要求3所述的晶棒切割调整方法,其特征在于,所述得到衬底片的步骤之后,所述方法还包括:
对所述衬底片的面型进行测量;
当所述衬底片的单侧面型的凸出度超出预设值时,降低所述衬底片的摇摆速度。
8.一种晶棒切割调整装置,其特征在于,包括:
进程模块,用于根据晶棒的尺寸确定总切割进程;
切分模块,用于将所述总切割进程分成等距的多个切分段,并计算出所述晶棒与各所述切分段对应的切分截面面积;
切割模块,用于根据每个所述切分截面面积的大小,反比例对应调节各所述切分段的进给速率,并根据各所述进给速率对所述晶棒进行切割,以得到衬底片;
第一测量模块,用于对所述衬底片的表面进行WARP曲线测量,以得到与所述WARP曲线对应的多个WARP值,并判断各所述WARP值是否满足要求;
调整模块,用于若所述WARP值不满足要求,对应调整不满足要求的WARP值所对应的切分段的切割参数。
9.根据权利要求8所述的晶棒切割调整装置,其特征在于,所述切割模块还包括:
供线回线单元,用于控制线网进行供线操作,当所述线网的供线长度达到第一预设长度时,控制所述线网进行回线操作,所述线网的回线长度为第二预设长度,所述第一预设长度大于所述第二预设长度;
循环单元,用于以上述线网的共线操作和回线操作为一个循环,直到完成所述总切割进程。
10.根据权利要求8所述的晶棒切割调整装置,其特征在于,所述切割模块还包括:
摆动单元,用于控制所述衬底片在靠近切割机的一侧移动时,沿切割线的方向进行往复摆动。
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