[发明专利]一种双控制板FCT系统及其测试方法

说明书

本发明涉及双MCU变频合板PCBA测试技术领域，提供了一种双控制板FCT系统及其测试方法，系统包括：第一控制板、第二控制板、显示板、专用治具、电路板、第一微控制单元、第二微控制单元、继电器以及智能终端；电路板安装在专用治具上，第一微控制单元、第二微控制单元分别与电路板电连接，第一控制板分别与显示板、智能终端、第一微控制单元及第二控制板通信连接，第一微控制单元与第二微控制单元通信连接，继电器的输入回路与第二控制板连接，继电器的输出回路与第二微控制单元连接；第一控制板用于测试第一微控制单元的I/O口，第二控制板用于测试第二微控制单元的I/O口。本发明测试效率高，成本低，适用范围广。

技术领域

本发明涉及双MCU变频合板PCBA测试技术领域，尤其涉及一种双控制板FCT系统及其测试方法。

背景技术

现在智能设备控制器应用越来越普及，通用FCT系统也在PCBA生产线开始普及。FCT（功能测试）指的是对测试目标板(UUT：Unit Under Test)提供模拟的运行环境（激励和负载），使其工作于各种设计状态，从而获取到各个状态的参数来验证UUT的功能好坏的测试方法。简单地说，就是对UUT加载合适的激励，测量输出端响应是否合乎要求。

然而，对于双MCU的变频合板，由于测试项目多，使用通用FCT，存在测试速度慢，时间长，效率低的缺点。

发明内容

针对以上相关技术的不足，本发明提出一种对PCBA测试效率高、成本低、使用效果好的双控制板FCT系统及其测试方法。

为了解决上述技术问题，第一方面，本发明实施例提供了一种双控制板FCT系统，包括：第一控制板、第二控制板、显示板、专用治具、电路板、第一微控制单元、第二微控制单元、继电器以及智能终端；所述电路板安装在所述专用治具上，所述第一微控制单元、所述第二微控制单元分别与所述电路板电连接，所述第一控制板分别与所述显示板、所述智能终端、所述第一微控制单元及所述第二控制板通信连接，所述第一微控制单元与所述第二微控制单元通信连接，所述继电器的输入回路与所述第二控制板连接，所述继电器的输出回路与所述第二微控制单元连接；所述第一控制板用于测试所述第一微控制单元的I/O口，所述第二控制板用于测试第二微控制单元的I/O口，且测试完成后将测试结果发送到所述第一控制板上，所述第一控制板收到所述第二控制板的测试结果并与所述第一控制板的测试结果汇总后，统一发送至所述显示板显示最终测试结果。

优选的，所述第一控制板上设置有第一串口、第二串口、第三串口及第四串口，所述第一串口与所述显示板连接，所述第二串口与所述第一微控制单元连接，所述第三串口与所述第二控制板连接，所述第四串口与所述智能终端连接。

优选的，所述继电器为延时闭合继电器。

优选的，所述第一微控制单元的I/O口包括输入开关口及输入温度口；所述第二微控制单元的I/O口包括PFC开关测试口及IPM测试口。

优选的，所述第二控制板上设置有第五串口、第六串口和第七串口，所述第五串口与所述第一控制板连接，所述第六串口与所述继电器的所述输出回路连接，所述第七串口与所述继电器的输入回路连接。

优选的，所述电路板为PCBA板，所述第一微控制单元为第一MCU，所述第二微控制单元为第二MCU。

第二方面，本发明实施例还提供一种双控制板FCT系统的测试方法，所述测试方法包括以下步骤：

S1、按下测试按钮；

S2、第一控制板的测试程序启动电路板上电；

S3、通过所述第一控制板与所述电路板的第一微控制单元的第一串行接口通信连接，用于测试所述第一微控制单元的I/O口；

S4、通过所述电路板的所述第一微控制单元的第二串行接口与所述电路板的第二微控制单元通信连接，通信完毕，保持静默；