[发明专利]一种测量发射光谱空间分布的定位装置

权利要求书

1.一种测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，包括观察窗口(1)、电动平移台(2)、光纤准直器(4)、Y形光纤分路器(5)、带孔刻度尺(6)、指示光源(8)及光谱仪(9)，其中电动平移台(2)设置于燃烧室的观察窗口(1)前侧，电动平移台(2)具有沿观察窗口(1)的长度方向移动的自由度，光纤准直器(4)和带孔刻度尺(6)设置于电动平移台(2)上，光纤准直器(4)的开口朝向观察窗口(1)，带孔刻度尺(6)上设有光源孔，指示光源(8)设置于光源孔的下方；Y形光纤分路器(5)的一端设有光纤输入A端口(12)和光纤输入B端口(13)，光纤输入A端口(12)与光纤准直器(4)连接，光纤输入B端口(13)设置于带孔刻度尺(6)的上方，且对准指示光源(8)；Y形光纤分路器(5)的另一端设有与光谱仪(9)连接的光纤输出端口(14)。

2.根据权利要求1所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，所述光源孔包括沿电动平移台(2)的移动方向开设的起始孔(10)、结束孔(11)及等间距设置于起始孔(10)和结束孔(11)之间的多个通孔；

起始孔(10)和结束孔(11)之间的间距等于所述观察窗口(1)的长度。

3.根据权利要求2所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，当所述光纤准直器(4)与所述观察窗口(1)的起始位置相对应时，所述带孔刻度尺(6)上的起始孔(10)与所述指示光源(8)相对应。

4.根据权利要求2所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，所述光源孔的直径为0.2mm-1.0mm；所述光纤输入B端口(13)的光纤芯径与所述光源孔的直径相同。

5.根据权利要求2所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，所述指示光源(8)的上方放置一个渐变中性密度滤光片(7)，渐变中性密度滤光片(7)用于调整所述指示光源(8)发射的指示光强度。

6.根据权利要求2所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，所述光纤输入A端口(12)、光纤输入B端口(13)及光纤输出端口(14)均为单芯多模光纤。

7.根据权利要求2所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，所述电动平移台(2)上设有支撑杆架(3)，所述光纤准直器(4)设置于支撑杆架(3)上。

8.根据权利要求2-7任一项所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，在所述电动平移台(2)移动时，所述指示光源(8)发出的指示光能够透过所述带孔刻度尺(6)上的光源孔到达所述光纤输入B端口(13)内，所述光谱仪(9)采集到所述指示光源(8)的特征光谱。

9.根据权利要求8任一项所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，所述指示光源(8)的特征光谱由时间间隔相等的多幅光谱组成。

10.根据权利要求2-7任一项所述的测量发射光谱空间分布的定位装置，其特征在于，工作时，点燃燃烧室内火焰；将所述起始孔(10)和所述结束孔(11)之间的多个通孔盖住，所述电动平移台(2)带动所述光纤准直器(4)从所述观察窗口(1)的起始位置移动至结束位置，所述光谱仪(9)采集光谱序列，该光谱序列包括开始点位置和结束点位置的指示光特征光谱，以及中间采集到的火焰发光光谱序列。