[发明专利]一种LED灯具温度升温测试仪及其测试方法在审

专利信息
申请号: 202210813593.8 申请日: 2022-07-12
公开(公告)号: CN115184832A 公开(公告)日: 2022-10-14
发明(设计)人: 郑志伟;严武 申请(专利权)人: 深圳市德测检测有限公司
主分类号: G01R31/44 分类号: G01R31/44;H05K7/20
代理公司: 深圳市汇信知识产权代理有限公司 44477 代理人: 赵英杰
地址: 518000 广东省深圳市坪山区龙田街道*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 led 灯具 温度 升温 测试仪 及其 测试 方法
【说明书】:

发明公开了一种LED灯具温度升温测试仪及其测试方法,涉及LED测试领域,一种LED灯具温度升温测试仪包括测试箱,测试箱内固定安装有若干个散热筛片,若干个散热筛片的中部均成型有灯管避空孔,测试箱的顶部安装有散热风机,其中一个或多个散热筛片的侧边固定安装有温度传感器,测试箱内固定安装有控制器,散热风机和温度传感器均电性连接安装在控制器上;升温测试方法通过若干个温度传感器实时感应LED灯具升温测试时的温度,使用散热风机压制LED灯具的温度,通过散热风机功率的变化来间接性判断LED灯具的好坏,保证LED灯具在升温测试时不会烧坏,不良品不会直接报废,方便于后续的返工维修。

技术领域

本发明涉及LED测试领域,尤其是涉及一种LED灯具温度升温测试仪及其测试方法。

背景技术

LED,发光二极管,是一种能将电能转化为可见光的固态半导体器件,LED光源具有使用低压电源、适用性强、稳定性高、响应时间短、对环境无污染、多色发光等的优点。其中影响LED灯具寿命的一个关键点在于温度,LED灯珠在电光转换的过程中,会有一部分电能转化成热能,使LED灯珠温度升高,温度过高将会烧坏LED灯珠和芯片,因此在测试LED灯具的使用寿命时,往往需要做温度升温测试,以保证LED灯具的合格率。

但是现有的LED温升测试装置都是直接测量LED灯具的温度,记录LED灯具在通电后的实时温升数据,由于LED灯具在温升测试时的温度较高,该测试温度会影响LED灯具的使用寿命,而且不合格的LED灯具有可能会直接烧毁,导致LED灯具直接报废,没有返工的可能,加大了制造成本,因此,有必要间接性测试LED灯具的温升数据,让LED灯具在温升测试时不会烧毁。

发明内容

本发明为克服上述情况不足,提供了一种能解决上述问题的技术方案。

一种LED灯具温度升温测试仪,包括测试箱,测试箱内固定安装有若干个散热筛片,若干个散热筛片的中部均成型有灯管避空孔,测试箱的左侧成型有灯管插孔,灯管插孔设置在灯管避空孔的左方,测试箱的顶部成型有风机开槽,风机开槽内固定安装有散热风机,散热风机设置在若干个散热筛片上侧的中部,测试箱的前后两侧均成型有阵列布置的若干个散热槽,其中一个或多个散热筛片的侧边固定安装有温度传感器,温度传感器设置在灯管避空孔的外侧,测试箱内固定安装有控制器,散热风机和温度传感器均电性连接安装在控制器上。

优选的:测试箱内设置有若干个导热铜管,导热铜管穿过若干个散热筛片设置,导热铜管和若干个散热筛片之间相互固定连接。

优选的:测试箱左右两侧的中部均成型有提手开槽,测试箱底侧的四端均固定安装有防滑脚垫。

优选的:控制器采用单片机。

优选的:散热筛片的厚度小于2毫米。

升温测试方法,使用上述的一种LED灯具温度升温测试仪,包括如下步骤:

步骤1、给管状的LED灯具供电,再将LED灯具插入到灯管插孔内,让LED灯具置于若干个散热筛片的灯管避空孔内;

步骤2、在控制器中设定预设温度H,通过一个或多个温度传感器来读取LED灯具的实时温度,并取得一个或多个温度传感器的温度平均值h,当h>H时,控制器驱动散热风机开启;

步骤3、散热风机将LED灯具的实时温度压制在预设温度附近,当LED灯具发热严重时散热风机的功率加大,反之散热风机的功率降低,同时记录下散热风机的实时功率P;

步骤4、在控制器中设定一个预设散热功率p,测试一段时间后,当P≤p时,判定为LED灯具升温测试合格,当P>p时,判定为LED灯具升温测试不合格,对应的LED灯具需要进行返工。

优选的:步骤2中的一个或多个温度传感器每隔5秒记录一次温度平均值h。

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