[发明专利]极小度检测

权利要求书

1.一种装置，所述装置包括：

浮点处理电路，所述浮点处理电路用于执行具有舍入的浮点运算以生成浮点结果值；以及

极小度检测电路，所述极小度检测电路用于检测指示所述浮点运算的结果是否极小的极小度状态，其中极小结果对应于具有小于最小非零量值的量值的非零数，所述最小非零量值可表示为待用于所述浮点结果值的浮点格式的正规浮点数；

所述极小度检测电路包括硬件电路逻辑，所述硬件电路逻辑被配置为支持舍入前极小度检测和舍入后极小度检测两者，以检测所述极小度状态。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所述极小度检测电路包括用于所述舍入前极小度检测和所述舍入后极小度检测两者的共享数据路径。

3.根据权利要求2所述的装置，其中所述极小度检测电路包括选择电路，所述选择电路基于所述极小度检测电路是执行所述舍入前极小度检测还是所述舍入后极小度检测来选择除所述极小度状态本身之外的中间值以用于确定所述极小度状态。

4.根据权利要求1所述的装置，其中所述极小度检测电路被配置为基于软件可编程控制参数来选择是根据所述舍入前极小度检测还是所述舍入后极小度检测来检测所述极小度状态。

5.根据权利要求1所述的装置，其中所述浮点处理电路被配置为执行注入舍入以生成用于所述浮点结果值的注入舍入有效数；并且

所述极小度检测电路被配置为对于所述舍入前极小度检测和所述舍入后极小度检测两者基于所述注入舍入有效数来检测所述极小度状态。

6.根据权利要求1所述的装置，其中所述浮点处理电路被配置为生成未舍入有效数；

所述浮点处理电路包括非注入舍入电路，所述非注入舍入电路用于对所述未舍入有效数进行舍入以生成用于所述浮点结果值的舍入结果有效数；并且

所述极小度检测电路被配置为对于所述舍入前极小度检测和所述舍入后极小度检测两者基于所述未舍入有效数来检测所述极小度状态。

7.根据权利要求1所述的装置，其中所述浮点处理电路被配置为通过选择性地执行舍入相加以生成用于所述浮点结果值的舍入结果有效数来执行所述舍入；并且

所述极小度检测电路被配置为执行所述舍入后极小度检测，而不执行除由所述浮点处理电路执行以生成用于所述舍入浮点结果的所述舍入结果有效数的所述舍入相加之外的任何其他舍入相加。

8.根据权利要求1所述的装置，其中在所述浮点运算中，所述浮点处理电路被配置为生成结果指数以及未舍入有效数或注入舍入有效数；

所述装置包括移位电路，所述移位电路用于将所述未舍入有效数或所述注入舍入有效数移位可变位数，以生成经移位的有效数；并且

所述极小度检测电路被配置为对于所述舍入前极小度检测和所述舍入后极小度检测两者基于由所述移位电路生成的所述经移位的有效数来检测所述极小度状态。

9.根据权利要求8所述的装置，其中：

所述装置包括移位控制电路以选择用于所述移位的所述可变位数；

当所述结果指数小于用于非零正规浮点数的所述浮点格式所支持的最小指数时，所述移位为向右移位Emin-E位，其中Emin为所述最小指数并且E为所述结果指数；

当所述结果指数大于或等于所述最小指数并且所述未舍入有效数或所述注入舍入有效数的最高有效位为一时，所述可变位数为零；并且

当所述结果指数大于或等于所述最小指数并且所述未舍入有效数或所述注入舍入有效数的最高有效位为零时，所述移位为向左移位对应于lzc和(E-Emin)中的最小值的位数，其中lzc为所述未舍入有效数或所述注入舍入有效数中的前导零的数量。

10.根据权利要求8所述的装置，其中所述极小度检测电路包括范围识别电路，所述范围识别电路用于识别由所述结果指数和所述未舍入有效数或所述注入舍入有效数表示的结果量值是否在预定范围内，对于所述预定范围，所述舍入前极小度检测和所述舍入后极小度检测能够针对至少一种舍入模式的所述极小度状态提供不同的结果。