[发明专利]重复定位精度高的万向节及应用该万向节的工程测量仪器

说明书

本发明涉及一种重复定位精度高的万向节及应用该万向节的工程测量仪器，万向节包括通过十字轴彼此相连的上节叉和下节叉，所述十字轴包括中心块，所述中心块的左侧开设有通孔，所述通孔内配合固定有第一轴承，所述第一轴承的内圈的外侧、以及第一轴承的外圈的内侧分别开设有第一、二环形滚道，所述第一、二环形滚道的截面均呈V形，所述第一轴承的滚珠设置在第一、二环形滚道之间，所述第一轴承的内圈中设有第一轴，所述下节叉包括两个间隔设置的第一叉耳，所述第一轴设置在两个第一叉耳之间；使用本发明万向节的工程测量仪器，具有重复定位精度高的特点。

技术领域

本发明涉及一种工程测量仪器用万向节及应用该万向节的工程测量仪器。

背景技术

如图4-5，现有技术的工程测量仪器（包括：激光扫平仪、全站定位仪、测距仪、经纬仪、水准仪、自动安平水准仪、测图仪、激光测量仪器、投影仪、摄影仪等）用万向节，包括通过十字轴28彼此相连的上节叉29和下节叉30，所述上节叉29适于转动设置在工程测量仪器的底座上，所述下节叉30适于和激光组件固定连接，所述十字轴28包括相互垂直设置的第一轴31和第二轴32，下节叉30包括两个间隔设置的叉耳33，所述叉耳33上开设有安装孔34，所述安装孔34内配合固定有支承第二轴32旋转的轴承35；所述轴承35的回转精度会直接影响工程测量仪器的定位精度。

现有技术的万向节存在以下问题：由于所述轴承35必然存在径向游隙，径向游隙的存在会导致下节叉30沿着第二轴32的轴线方向位移（即轴向游隙）并产生重心偏移，所述下节叉30产生重心偏移后会影响工程测量仪器的定位精度，同一个工程测量仪器每一次定位的精度往往均不相同，重复定位精度较差；为了保证工程测量仪器能够获得良好的定位精度，通常通过人工用工装筛选出轴向游隙小的轴承并装配在下节叉30上，该方法既不能从根本上解决问题，也达不到预期效果。

发明内容

本发明要解决的技术问题是通过一种重复定位精度高的万向节及应用该万向节的工程测量仪器，使用本申请的万向节的工程测量仪器，具有重复定位精度较高的特点。

为解决上述技术问题，本发明提供的一种重复定位精度高的万向节，包括通过十字轴彼此相连的上节叉和下节叉，所述十字轴包括中心块，所述中心块的左侧开设有通孔，所述通孔内配合固定有第一轴承，所述第一轴承的内圈的外侧、以及第一轴承的外圈的内侧分别开设有第一、二环形滚道，所述第一、二环形滚道的截面均呈V形，所述第一轴承的滚珠设置在第一、二环形滚道之间，所述第一轴承的内圈中设有第一轴，所述下节叉包括两个间隔设置的第一叉耳，所述第一轴设置在两个第一叉耳之间。

进一步的，所述中心块的前、后侧分别开设有沉孔，所述沉孔内配合有第二轴承，所述上节叉包括两个间隔设置的第二叉耳，所述第二叉耳上穿设有第二轴，两个所述第二轴的内端分别通过前、后侧的第二轴承支承旋转。

进一步的，所述第一、二环形滚道的截面分别呈无底边的等腰梯形，该无底边的等腰梯形的两斜边之间的夹角为115°-125°；该结构的第一轴承的轴向游隙小，结构更稳定。

进一步的，所述通孔的左端口内螺纹配合有锁紧螺母，所述通孔的右端口内设有限位环，所述第一轴承的外圈位于锁紧螺母与限位环之间；所述锁紧螺母与限位环实现第一轴承的外圈的轴向固定。

进一步的，所述第一轴包括左半轴和右半轴，所述右半轴包括支承段，所述支承段的左端设有连接段，所述连接段的直径小于支承段的直径，所述左半轴的右端开设有第一螺纹孔，所述连接段的左端穿过内圈并螺纹配合在第一螺纹孔内；所述第一轴与内圈之间相对固定，轴向无窜动。

进一步的，所述第一叉耳上开设有支承孔，两个所述支承孔分别与第一轴的两端配合，所述第一叉耳上开设有连通支承孔的第二螺纹孔，所述第二螺纹孔内螺纹配合有支头螺钉，所述支头螺钉的内端与相应的第一轴的一端相抵；所述第一轴与下节叉之间相对固定，轴向无窜动。

一种工程测量仪器，该工程测量仪器的底座设置在所述的万向节的上节叉上。