[发明专利]一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统

说明书

本发明涉及一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统，第一次优化的对象为所有故障模式形成的F‑T矩阵，目标为系统测试代价最低，约束条件为系统要求达到的故障检测率和故障隔离率下限；第二次寻优为BIT级的故障模式形成的F‑BIT矩阵，目标为BIT故障检测率、隔离率最高，约束条件为BIT的重量和可靠度，同时反馈调整BIT故障模式集，最终得到BIT级的最优故障模式集、测试集、检测率、隔离率；第三次寻优为ITE级的F‑ITE矩阵，目标为ITE测试代价最低，约束条件为ITE的故障检测率和故障隔离率下限，输出为ITE级的故障模式集、测试集。上述方法有利于开展机内测试与综合测试设备方案的权衡设计。

技术领域

本发明涉及装备测试领域，特别是涉及一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统。

背景技术

测试是指对给定的产品、材料、物理现象或过程，按照规定的程序确定一种或多种特性的技术操作，是获得特性信息、完成系统故障检测和隔离的重要手段。

目前飞机、导弹等大型装备的机内测试与综合测试设备的设计基本依赖设计人员的经验，无统一的方法和流程，更谈不上一体化的设计方法，对于机内测试、综合测试分别需要测哪些内容缺乏科学的依据。通常是机内测试设计完成后，产品的定型阶段才开始开展综合测试设备设计。甚至机内测试与综合测试设备为两个部门分开设计，各自相互独立，缺乏综合，导致机内测试与综合测试设备的分工不明确、设计水平差距较大，且不同设计人员的设计水平参差不齐，严重制约了装备的测试性设计水平。基于此，亟需一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统。

发明内容

本发明的目的是提供一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法及系统。

为实现上述目的，本发明提供了如下方案：

一种装备机内测试与综合测试一体化设计方法，包括：

步骤1、对由装备系统的所有故障模式以及所有测试组成的故障-测试相关性矩阵进行第一优化以实现系统测试性代价最低，得到第一故障-测试相关性矩阵；所述测试为对装备系统的故障模式进行的测试；

步骤2、从所述第一故障-测试相关性矩阵中获得第一故障模式集和第一测试集；

步骤3、从所述第一故障模式集中删除故障率最高的故障模式，得到第二故障模式集，并将所述故障率最高的故障模式添加到BIT级故障模式集中，得到第一BIT级故障模式集；从所述第一测试集中删除与所述故障率最高的故障模式相关的测试，得到第二测试集，并将所述与所述故障率最高的故障模式相关的测试添加到BIT级测试集中，得到第一BIT级测试集；

步骤4、根据所述第一BIT级故障模式集和所述第一BIT测试集获得故障-机内测试相关性矩阵，记为第一F-BIT矩阵；

步骤5、对所述第一F-BIT矩阵进行第二优化以实现BIT级故障检测率和BIT级故障隔离率最大，得到第二F-BIT矩阵；

步骤6、从所述第二故障模式集中取出故障率最高的故障模式添加到第一BIT级故障模式集，得到第二BIT级故障模式集；并从所述第二测试集中取出与所述故障率最高的故障模式相关的测试添加到第一BIT测试集，得到第二BIT测试集；

步骤7、根据第二BIT级故障模式集和第二BIT测试集获得第三F-BIT矩阵；

步骤8、判断所述第三F-BIT矩阵是否满足BIT故障模式的测试设备重量和可靠度均符合预设要求，若是，则令所述第三F-BIT矩阵为第一F-BIT矩阵，并返回步骤5；若否，则将所述第二F-BIT矩阵作为最优F-BIT矩阵；

步骤9、根据所述最优F-BIT矩阵获得最优的BIT级故障模式集和最优的BIT级测试集，所述最优的BIT级测试集中的测试与所述最优的BIT级故障模式集中的故障模式对应；