[发明专利]一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具

权利要求书

1.一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，包括方形管(1)，其特征在于：所述方形管(1)内部四角位置均设置有驱动装置(2),驱动装置(2)的上方设置有压紧装置(3),方形管(1)上方设置有两个对称分布的门型管(4),门型管(4)端部和压紧装置(3)连接，所述方形管(1)和门型管(4)之间连通有凹型板状管(5)，所述凹型板状管(5)的一侧连接有制动板(6),制动板(6)一端和凹型板状管(5)铰接，制动板(6)的另一端传动连接有横杆(7),横杆(7)贯穿制动板(6)上开设的板孔，横杆(7)端部和压紧装置(3)连接，所述方形管(1)的一侧设置有出料台(9),出料台(9)的两侧均连接有侧控架(10),侧控架(10)的一侧传动连接有V型板(11),方形管(1)上固定有控位架(12),V型板(11)贯穿控位架(12)上开设的方孔，所述V型板(11)设置在制动板(6)的一侧。

2.根据权利要求1所述的一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，其特征在于：所述侧控架(10)包括J型板(13)、定位座(14)、第一复位扭簧(15)、第一短轴(16)和制动齿轮(17)，所述定位座(14)固定在出料台(9)上，定位座(14)上开设通孔，且通孔中贯穿有第一短轴(16),第一短轴(16)的一端固定连接有制动齿轮(17),第一短轴(16)的另一端固定连接有J型板(13),第一短轴(16)上固定套有第一复位扭簧(15),第一复位扭簧(15)的一端固定在定位座(14)上，V型板(11)的一侧壁上开设有若干均匀分布的齿槽，制动齿轮(17)和V型板(11)啮合传动连接。

3.根据权利要求1所述的一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，其特征在于：所述压紧装置(3)包括滑杆(18)、密封台(19)、滑筒(20)、L型控制杆(21)、第一复位弹簧(22)、拦截架(23)、细筒(24)、斜板(25)、顶控件(26)和中控件(27)，所述滑筒(20)活动套接在门型管(4)的开口端内部，滑筒(20)的一端设置有密封台(19),密封台(19)上的边缘位置开设通孔，且通孔中活动套接有滑杆(18),滑杆(18)固定在滑筒(20)上，滑筒(20)的另一端一体连接有细筒(24),细筒(24)一端延伸到门型管(4)外部，细筒(24)下方设置有顶控件(26)，细筒(24)和顶控件(26)之间固定连接有斜板(25),顶控件(26)的中部连接有中控件(27)，所述滑筒(20)内部设置有L型控制杆(21),L型控制杆(21)一端固定在密封台(19)上，L型控制杆(21)的另一端延伸到滑筒(20)外部，L型控制杆(21)贯穿滑筒(20)壳体上开设的板孔，且L型控制杆(21)一端固定在横杆(7)上。

4.根据权利要求3所述的一种具有定位功能的用于集成电路测试分选机的测试夹具，其特征在于：所述顶控件(26)包括外控架(28)、门型折板(29)、内撑柱(30)、活动盘(31)、第二复位弹簧(32)和内环筒(33)，所述外控架(28)形状为两个平行分布的环板，且两个环板之间一体连接有两个对称分布的U型板，外控架(28)内部设置有活动盘(31)和内环筒(33)，所述活动盘(31)为环板状且活动盘(31)一侧开设圆台槽，活动盘(31)中部连接有中控件(27),内环筒(33)上环设有若干均匀分布的通孔，且每个通孔中活动套接有内撑柱(30),内撑柱(30)上套有第二复位弹簧(32),第二复位弹簧(32)一端顶在内撑柱(30)上设置的凸环上，第二复位弹簧(32)的另一端接触有门型折板(29),门型折板(29)固定在内环筒(33)上，且内撑柱(30)活动套接在门型折板(29)中部开设的通孔中，活动盘(31)的周围接触有若干均匀环设的内撑柱(30),活动盘(31)活动设置在外控架(28)中，内环筒(33)和外控架(28)之间固定连接。