[发明专利]一种外径检测装置及其检测方法在审
| 申请号: | 202210743210.4 | 申请日: | 2022-06-28 |
| 公开(公告)号: | CN115077342A | 公开(公告)日: | 2022-09-20 |
| 发明(设计)人: | 杨锦;周志 | 申请(专利权)人: | 无锡阳光精机股份有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/08 | 分类号: | G01B5/08 |
| 代理公司: | 深圳市广诺专利代理事务所(普通合伙) 44611 | 代理人: | 王嘉佩 |
| 地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 外径 检测 装置 及其 方法 | ||
本发明涉及一种检测装置,尤其是一种外径检测装置及其检测方法。一种外径检测装置,包括检测表,检测表包括千分表或百分表,还包括:检测架,检测架上设有检测槽,检测表安装在检测槽的一侧;侧面定位销,侧面定位销固定在检测槽的另一侧,且与检测表同轴线设置;及底部定位销,底部定位销固定在检测槽的底部;被测轴的外圆面分别与侧面定位销、底部定位销和检测表的检测杆接触,且侧面定位销的轴线与被测轴的轴线垂直相交,底部定位销的轴线与被测轴的轴线垂直相交。该装置通过外径标准规校准外径检测装置的尺寸,然后插到被测轴上快速测量被测轴的外径,并且检测的精度高、准确性好,并且能够检测多种规格的轴,检测范围广,通用性好。
技术领域
本发明涉及一种检测装置,尤其是一种外径检测装置及其检测方法。
背景技术
光伏硅晶体、蓝宝石、半导体碳化硅等高硬脆材料切割设备的精密主轴,其尺寸要求精度高,主轴的套筒外径一般有尺寸大,精度高等特点,其公差一般在微米级精度,其套筒外径在在生产过程中,如何快速准确的测量尺寸是亟待解决的问题。传统的检测方法是使用外径千分尺来进行检测,这种检测方法有以下难点:
1.难以定位产品中心尺寸,直径方向定位不准确就会导致检测结果有较大的偏差;
2.测量速度缓慢,难以进行快速的尺寸检测。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供一种检测结果精确、准确性好、检测速度快的一种外径检测装置,具体技术方案为:
一种外径检测装置,包括检测表,所述检测表包括千分表或百分表,还包括:检测架,所述检测架上设有检测槽,所述检测表安装在所述检测槽的一侧;侧面定位销,所述侧面定位销固定在所述检测槽的另一侧,且与所述检测表同轴线设置;及底部定位销,所述底部定位销固定在所述检测槽的底部;被测轴的外圆面分别与所述侧面定位销、所述底部定位销和所述检测表的检测杆接触,且所述侧面定位销的轴线与被测轴的轴线垂直相交,所述底部定位销的轴线与被测轴的轴线垂直相交。
优选的,还包括调节螺钉,所述调节螺钉安装在所述检测架上,且分别与所述侧面定位销、所述底部定位销和所述检测表相对设置,用于固定所述侧面定位销、所述底部定位销和所述检测表。
优选的,所述侧面定位销和所述底部定位销的顶部为圆弧形。
一种外径检测方法,包括以下步骤:
将与被测轴直径相同的外径标准规插入到外径检测装置的检测槽内校准外径检测装置,使侧面定位销和检测表的轴线与外径标准规的轴线垂直相交,使底部定位销的轴线与外径标准规的轴线垂直相交,调整检测表的表盘,使指针指向零位;其中,检测槽设置在检测架上,侧面定位销和检测表分别安装在检测槽的两侧,且同轴线设置,所述底部定位销安装在所述检测槽的底部,所述检测表包括千分表或百分表;
将被测轴垂直放置在检测平台上,将检测槽插到被测轴上,被测轴的外圆面分别与侧面定位销、底部定位销和检测表的检测杆接触,且使侧面定位销和底部定位销压紧在被测轴上,读取检测表的检测数据。
优选的,将检测架放置在等高块上,分别对被测轴的中部和顶部进行检测,并读取检测数据。
优选的,所述侧面定位销、底部定位销和检测表均通过调节螺钉固定在所述检测架上。
优选的,所述侧面定位销和所述底部定位销的顶部为圆弧形。
与现有技术相比本发明具有以下有益效果:
本发明提供的一种外径检测装置通过外径标准规校准外径检测装置的尺寸,然后插到被测轴上快速测量被测轴的外径,并且检测的精度高、准确性好,并且能够检测多种规格的轴,检测范围广,通用性好。
附图说明
图1是一种外径检测装置使用外径标准规校准的示意图;
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