[发明专利]一种基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的装置及其方法

权利要求书

1.一种基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的装置，其特征在于，包括：

发光元件，用于发出连续的光束；

单色器，设于所述光束的射出方向上，用于将所述光束分离成不同波长的单色光；

积分球，接收所述单色器分离的单色光，并对漫反射的单色光进行汇聚；

恒温元件，设于所述积分球内，用于使标准样品保持恒温，单色光照射到恒温标准样品后产生漫反射；

光电转换元件，连接所述积分球，用于将光信号转化为电信号；

示波器，连接所述光电转换元件，用于读取、计算并记录所述光电转换元件传导的电信号。

2.根据权利要求1所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的装置，其特征在于，所述光电转换元件包括：

光纤，连接所述积分球，用于接收所述积分球汇聚的单色光；

光电倍增管，连接所述光纤，用于将所述光纤传导的光信号转换成电信号。

3.根据权利要求1所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的装置，其特征在于，所述单色器为滤光片或者光栅。

4.根据权利要求1所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的装置，其特征在于，所述发光元件为卤素灯。

5.根据权利要求1所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的装置，其特征在于，所述恒温元件为半导体温度控制仪。

6.一种基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的方法，其特征在于，包括以下步骤：

对待测样品进行采样，制备成标准样品；

将标准样品进行加热处理后，在不同波长单色光的照射下，测量标准样品在不同波长下的第一次平均反射光强度值；

完成第一次测量后，进行加热培养，测量标准样品的第二次平均反射光强度值；

求取第一次平均反射光强度值和第二次平均反射光强度值的差值；

将平均反射光强度值的差值通过标准曲线换算成样品的细菌总数值。

7.根据权利要求6所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的方法，其特征在于，所述加热处理的条件为：在45-47℃条件下加热3-5min，所述加热培养的条件为：在45-47℃条件下加热15-17min，所述加热处理与加热培养的总时间为20min。

8.根据权利要求6所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的方法，其特征在于，在制备标准样品时，包括：

若待测样品为水或乳浊液或水样品时，将所述待测样品直接与灭菌的脱脂乳按体积比1:1～2混合混匀，获得标准样品；

若待测样品为固体、半固体、半流质、凝胶状、流质、悬浊液样品中的任意一种，则将待测样品与生理盐水混合混匀，获得样品匀液，所述样品匀液中待测样品的含量为重量百分比5-20％，将样品匀液与灭菌的脱脂乳按体积比1:1～2混合混匀，获得标准样品。

9.根据权利要求6所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的方法，其特征在于，所述标准曲线的获取过程为：

对待测样品进行多次采样，随机选取任一采集样品，将采集样品制备成标准样品；

将标准样品进行加热处理后，在不同波长单色光的照射下，测量标准样品在不同波长下的第一次平均反射光强度值；

完成第一次测量后，进行加热培养，测量标准样品的第二次平均反射光强度值；

求取第一次平均反射光强度值和第二次平均反射光强度值的差值；

继续选取任一采集样品，重复上述步骤直至获得所有采集样品平均反射光强度值的差值；

利用所有采集样品平均反射光强度值的差值，建立反射光强度值的差值与细菌总数真值的标准曲线。

10.根据权利要求9所述的基于多波长反射光谱快速测定细菌总数的方法，其特征在于，所述细菌总数真值的获取为：根据国标GB4789.2—2016检测所述经加热培养的标准样品的细菌总数即为细菌总数真值。