[发明专利]静电环、测试电路、显示面板和显示装置在审
申请号: | 202210724603.0 | 申请日: | 2022-06-23 |
公开(公告)号: | CN115019707A | 公开(公告)日: | 2022-09-06 |
发明(设计)人: | 冯伟;张杨;钱勇 | 申请(专利权)人: | 合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00;H05F3/00 |
代理公司: | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人: | 叶婵;翟姝红 |
地址: | 230012 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 静电 测试 电路 显示 面板 显示装置 | ||
本申请提供了一种静电环、测试电路、显示面板和显示装置,静电环包括:位于第一焊盘第一侧的第一导电结构和位于第一焊盘第二侧的第一导电结构;第一导电结构的第一端与第一焊盘电连接;位于第一焊盘第二侧的第一导电结构的第二端和位于第二焊盘第一侧的第一导电结构的第二端相对,且不接触;第一焊盘和所述第二焊盘相邻。本申请的技术方案可避免因两个焊盘之间电阻偏小而产生的微短路的现象,抗ESD能力较强。
技术领域
本申请涉及显示技术,尤其涉及一种静电环、测试电路、显示面板和显示装置。
背景技术
在显示面板领域,通常设计有Cell Test(点屏测试/点灯测试)相关的测试电路,该电路能够测试显示面板中存在的不良,显示面板内部的多个绑定焊盘之间或测试电路中的多个点灯测试焊盘(Cell Test pad,CT pad)之间通过静电环连接,以释放显示面板内部电路或测试电路中的静电。
然而,现有的静电环特性不稳定,容易发生短路,防ESD(Electro-StaticDischarge,静电释放)能力较差,导致在点灯测试过程中显示面板和测试电路的功耗和电流超标。
发明内容
本申请实施例提供一种静电环、测试电路、显示面板和显示装置,以解决相关技术存在的问题,技术方案如下:
第一方面,本申请实施例提供了一种静电环,包括:位于第一焊盘第一侧的第一导电结构和位于第一焊盘第二侧的第一导电结构;
第一导电结构的第一端与第一焊盘电连接;
位于第一焊盘第二侧的第一导电结构的第二端和位于第二焊盘第一侧的第一导电结构的第二端相对,且不接触;第一焊盘和第二焊盘相邻。
第二方面,本申请实施例提供了一种测试电路,包括:测试焊盘、以及本申请任一实施例提供的静电环。
第三方面,本申请实施例提供了一种显示面板,包括:位于绑定区的绑定焊盘、以及本申请任一实施例提供的静电环。
第四方面,本申请实施例提供了一种显示装置,包括:显示面板,以及用于测试显示面板的测试电路;
显示面板和测试电路中的至少一个包括本申请任一实施例提供的静电环。
上述技术方案中的优点或有益效果至少包括:
本申请实施例提供的静电环采用第一导电结构来替代现有的晶体管结构,可使不同的信号对应的焊盘之间的电阻保持稳定,避免因两个焊盘之间电阻偏小而产生的微短路的现象,在焊盘之间产生静电时,第一导电结构可及时释放静电,抗ESD能力较强。
上述概述仅仅是为了说明书的目的,并不意图以任何方式进行限制。除上述描述的示意性的方面、实施方式和特征之外,通过参考附图和以下的详细描述,本申请进一步的方面、实施方式和特征将会是容易明白的。
附图说明
在附图中,除非另外规定,否则贯穿多个附图相同的附图标记表示相同或相似的部件或元素。这些附图不一定是按照比例绘制的。应该理解,这些附图仅描绘了根据本申请公开的一些实施方式,而不应将其视为是对本申请范围的限制。
图1为相关技术中的静电环的结构示意图;
图2为相关技术的静电环中晶体管的特性示意图;
图3为相关技术中正常情况下焊盘之间的电阻大小示意图;
图4为相关技术中异常情况下焊盘之间的电阻大小示意图;
图5为相关技术中一种显示面板产品中测试信号线与跨接接线交叠的微观示意图;
图6为相关技术中另一种显示面板产品中测试信号线与跨接接线交叠的微观示意图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司,未经合肥鑫晟光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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