[发明专利]一种基于过电压影响因素的检测方法、装置及系统

权利要求书

1.一种基于过电压影响因素的检测方法，其特征在于，包括：

获取电容器组的实际过电压幅值以及所述实际过电压幅值对应的持续时间；

根据所述实际过电压幅值、所述持续时间以及预设因素预测模型，确定所述实际过电压幅值对应的影响因素；其中，所述影响因素为产生所述实际过电压幅值的影响因素；以及

若所述实际过电压幅值与目标过电压幅值之间的差值小于或者等于预设差值阈值，则输出所述影响因素。

2.根据权利要求1所述的基于过电压影响因素的检测方法，其特征在于，所述预设因素预测模型的建立方法包括：

获取多个检测集合和影响因素集合；其中，所述检测集合包括检测过电压幅值和所述检测过电压幅值对应的持续时间；

根据所述检测集合以及所述影响因素集合，计算得到累计贡献率；

若所述累计贡献率大于或者等于预设贡献率阈值，则确定所述累计贡献率对应的影响因素为产生所述检测过电压幅值的影响因素；以及

根据多个所述检测集合以及每个所述检测集合对应的影响因素，建立所述预设因素预测模型。

3.根据权利要求2所述的基于过电压影响因素的检测方法，其特征在于，所述根据所述检测集合以及所述影响因素集合，计算得到累计贡献率包括：

根据所述检测集合对应的矩阵和所述影响因素集合对应的矩阵，建立矩阵集合；其中，所述矩阵集合包括所述影响因素集合中每个影响因素与所述检测集合中的每个检测过电压幅值以及所述检测过电压幅值对应的持续时间之间的对应关系；

对所述矩阵集合进行数据标准化，以得到数据结果；

计算所述矩阵集合的协方差矩阵；

根据所述协方差矩阵以及所述矩阵集合对应的特征向量，计算得到排列矩阵；以及

根据所述排列矩阵以及所述数据结果，计算得到所述累计贡献率。

4.根据权利要求3所述的基于过电压影响因素的检测方法，其特征在于，所述根据所述协方差矩阵以及所述所述矩阵集合对应的特征向量，计算得到排列矩阵包括：

根据所述协方差矩阵，计算得到特征值；以及

按照所述特征值的大小对所述矩阵集合对应的特征向量进行排列，以得到所述排列矩阵。

5.一种基于过电压影响因素的检测装置，其特征在于，包括：

获取模块，用于获取电容器组的实际过电压幅值以及所述实际过电压幅值对应的持续时间；

确定模块，用于根据所述实际过电压幅值、所述持续时间以及预设因素预测模型，确定所述实际过电压幅值对应的影响因素；其中，所述影响因素为产生所述实际过电压幅值的影响因素；以及

输出模块，用于若所述实际过电压幅值与目标过电压幅值之间的差值小于或者等于预设差值阈值，则输出所述影响因素。

6.一种基于过电压影响因素的检测系统，其特征在于，包括：电容器组，所述电容器组包括多个第一电容，每个第一电容之间并联连接；电抗器组，所述电抗器组包括多个电抗器，每个电抗器与所述每个第一电容电性连接；并联组件，所述并联组件包括电阻和第二电容，所述电阻和所述第二电容并联连接以形成所述并联组件；保护装置，所述保护装置与所述并联组件串联，以形成串联组件；其中，每个所述串联组件与所述每个电抗器并联连接，且每个所述串联组件与所述每个第一电容串联连接，所述保护装置用于保护所述电容器组；开关组件，所述开关组件与所述每个第一电容串联连接；以及控制器，所述控制器与所述并联组件连接，所述控制器分别与所述电容器组串联连接，所述控制器用于执行上述权利要求1-5任一所述的基于过电压影响因素的检测方法。

7.根据权利要求6所述的基于过电压影响因素的检测系统，还包括熔断器，所述熔断器与所述并联组件并联连接。

8.根据权利要求7所述的基于过电压影响因素的检测系统，还包括氧化锌装置，所述氧化锌装置与所述熔断器串联连接，所述氧化锌装置与所述并联组件并联连接。