[发明专利]一种高速信号质量的测试方法和测试装置

说明书

本发明公开了一种高速信号质量的测试方法，测试方法包括：在待测设备中设置功能区和测试区；分析、模拟待测设备中的信号走线，在功能区中选定需测试的高速信号走线；在测试区复刻需测试的高速信号走线，其中测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；通过测试仪器向测试区输入目标测试码流；通过测试仪器接收经过测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示高速信号的SI参数。本发明还涉及一种高速信号质量的测试装置。本发明提供的测试方法和测试装置可以利用PCB板材剩余部分或者增加少量PCB板材的前提下，为工程师提供了对高速信号简单高效的测量方法。

技术领域

本发明涉及高速信号的测试领域，具体地，涉及一种高速信号质量的测试方法，还涉及一种高速信号质量的测试装置。

背景技术

本部分提供的仅仅是与本公开相关的背景信息，其并不必然是现有技术。

随着技术不断发展，越来越多的高速信号应用于PCB板中，但相应地随之而来的是高速信号PCB设计变得越来越难，问题越来越多，比如 PCIE3.0(8G)，XGE(10GE ETH)，SAS3.0(12G)，FC(16G、32G) 等；由于对高速信号的要求越来越高，保证高速信号的可靠性是工程师面临的重要课题，对高速信号的测试也提出了更高的要求。

在高速PCB板设计时，PCB链路插损分析，SI分析测量是保证单板功能、性能可靠性必不可少的环节，同时，由于这类高速信号往往是主机芯片BGA BALL直通到端侧设备，测试设备是很难直接接入测试SI参数。工程师只能通过昂贵的专用的测试探针进行测试，测试代价高，同时也会由于测试设备接入导致测试结果出现偏差。

在现有技术中，以往单板PCB中高速信号质量测量大多依赖前端ADI 信号仿真，对所述高速通道进行信号完整性仿真，以确定所述高速通道是否满足信号完整性要求，但仿真结果往往和实际硬件场景存在偏差。

常用的测试方法还有，利用主从机设备的特殊功能，主从机设备有强大的辅助定位功能(比如数字眼图等)，但该方法局限在于两点：一是对于主从机依赖度高；二是精度有限，而且只能定性分析问题，并不能定量给出数据。

还有一种常用的测试方法是，使用标准测试组件接入硬件链路中进行信号测试，比如使用PCIE协会提供的PCIE接口测试组件接入待测单板的 PCIE SLOT连接器，进行PCIERC端信号测试；该访问存在以下局限：1、对于待测主板依赖度高，必须要求待测信号走线中有接到连接器才能测量，板内直连的信号无法测量；2、不同协议定义的连接器不一样，测试组件不通用；3、测试组件贵且获得困难。

综上，在现有技术中，缺乏对高速信号直接精确的测试方法，或者需要花费巨大代价进行测量，存在的技术问题，总结如下：1.测试设备是很难直接接入测试SI参数；2.工程师只能通过昂贵的专用的测试探针进行测试，测试代价高；3.由于测试设备接入导致测试结果出现偏差；4.现有的测试方法，存在连接器端口不统一的问题。

发明内容

针对现有技术的缺陷，本发明的目的是至少解决了上述列举的四项技术问题。该目的是通过以下技术方案实现的：

本发明的第一方面提出了一种高速信号质量的测试方法，所述测试方法包括：在待测设备中设置功能区和测试区；分析、模拟所述待测设备中的信号走线，在所述功能区中选定需测试的高速信号走线；在所述测试区复刻所述需测试的高速信号走线，其中所述测试区用于对高速信号的SI参数进行测试；通过测试仪器向所述测试区输入目标测试码流；通过测试仪器接收经过所述测试区复刻的走线链路的高速信号，并输出或显示所述高速信号的SI参数。

根据本发明的高速信号质量的测试方法，解决了硬件高速信号的信号质量测量困难的技术问题，为工程师提供了更为简单高效的高速信号SI参数的测试方法。本发明提供的高速信号质量的测试方法，是通过利用PCB 单板剩余板材或者增加少量板材的情况下，实现高速信号简单高效的测试方案。