[发明专利]一种测试精度高的激光器bar条测试装置及其测试方法在审

专利信息
申请号: 202210719521.7 申请日: 2022-06-23
公开(公告)号: CN114994494A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 黄玉柱;吴应发;唐超群 申请(专利权)人: 武汉智汇芯科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/04;G01R19/00
代理公司: 武汉天领众智专利代理事务所(普通合伙) 42300 代理人: 高兰
地址: 430000 湖北省武汉市东湖新*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 精度 激光器 bar 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种测试精度高的激光器bar条测试装置,包括底板(18),其特征在于,所述底板(18)上固定连接有连接板(1),所述连接板(1)上通过升降机构连接有连接块(2),所述连接块(2)的两端均固定连接有连接柱(5),两个所述连接柱(5)上均固定连接有导电片(6),所述连接板(1)上安装有检测装置(15),所述检测装置(15)与两个所述导电片(6)通过导线连接,所述连接板(1)上通过间歇移动机构连接有移动板(8),所述移动板(8)上通过固定机构固定有激光器bar条(7)。

2.根据权利要求1所述的测试精度高的激光器bar条测试装置,其特征在于,所述升降机构包括转轴(4)与第二电机(17),所述第二电机(17)安装在所述连接板(1)上,所述第二电机(17)输出轴上固定连接有所述转轴(4),所述转轴(4)上开设有往复螺纹,所述转轴(4)与所述连接块(2)螺纹贯穿连接,所述连接块(2)上设置有限位机构。

3.根据权利要求2所述的测试精度高的激光器bar条测试装置,其特征在于,所述限位机构包括定位杆(3),所述定位杆(3)与所述连接块(2)固定连接,所述连接板(1)上开设有定位孔,所述定位杆(3)可插接进所述定位孔内。

4.根据权利要求3所述的测试精度高的激光器bar条测试装置,其特征在于,所述间歇移动机构包括限位框(10)、螺纹杆(11)、第一电机(12)、滑块(13)、不完全齿轮(14)、齿轮(16),所述限位框(10)固定连接在所述底板(18)上,所述螺纹杆(11)通过轴承与所述限位框(10)转动连接,所述螺纹杆(11)螺纹贯穿所述滑块(13),所述滑块(13)与所述移动板(8)固定连接,所述滑块(13)与所述限位框(10)相抵接,所述齿轮(16)固定连接在所述螺纹杆(11)上,所述底板(18)上安装有第一电机(12),所述第一电机(12)的输出轴与所述不完全齿轮(14)传动连接,所述不完全齿轮(14)相啮合齿轮(16)。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的测试精度高的激光器bar条测试装置,其特征在于,所述固定机构包括紧固旋钮(9)与固定架(19),所述固定架(19)与所述移动板(8)固定连接,所述紧固旋钮(9)螺纹贯穿所述固定架(19)。

6.根据权利要求5所述的测试精度高的激光器bar条测试装置,其特征在于,所述紧固旋钮(9)的上固定连接有抵接块(20)。

7.根据权利要求5所述的测试精度高的激光器bar条测试装置,其特征在于,所述抵接块(20)为橡胶材料制成。

8.根据权利要求5所述的测试精度高的激光器bar条测试测试方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、通过所述固定机构将所述激光器bar条(7)进行固定在所述移动板(8)上,同时所述激光器bar条(7)的一端与所述固定架(19)相抵接;

S2、启动间歇移动机构带动所述移动板(8)进行移动,从而带动所述激光器bar条(7)进行间歇移动,当所述激光器bar条(7)上的半导体单管位于所述导电片(6)的正下方时,升降机构带动所述导电片(6)向下移动,使所述导电片(6)与半导体单管的两端进行抵接,对电路进行导通;

S3、通过检测装置(15)对通过半导体单管的电流起到检测的作用,当电流出现异常时,对该半导体单管进行标记。

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