[发明专利]一种主板单独测试工装及DCT对接测试的测试装置

说明书

一种主板单独测试工装及DCT对接测试的测试装置，包括测试工装基座及配置在测试工装基座上的至少一个探针座和控制开关及指示灯，所述探针座用于电性连接待测试主板的测试点，所述探针座通过导线与DCT测试主机连接以传输测试信号，所述控制开关及指示灯与DCT测试主机电性连接，还包括独立散热模块，所述独立散热模块通过散热支架压接在待测试主板的散热区域。本发明采用全新的DCT对接主板独立测试和独立散热模块，由原来的装配式散热及接线式测试改为独立的模块化散热和测试，大大降低了测试条件，减少了员工的测试步骤，减少作业时间，解决传统测试工装在测试过程采用接线端子模式下其过程涉及强电部分和存在测试过电隐患的安全问题。

技术领域

本发明涉及主板检测技术领域，特别是一种主板单独测试工装及DCT对接测试的测试装置。

背景技术

在空调的制造和销售过程中，大多数客户都要求各供应商实现物料的拆零发货，空调行业内电控散件涉及DCT测试，需要将主板和散热器安装到电器盒内并通过接线端子进行测试，过程复杂、效率低下，同时为满足客户的拆零发货需求需要再将组装测试的电控进行拆零包装，过程存在极大的质量隐患，同时生产效率也会大大降低。原有测试需要将主板和散热器组装成电控方可进行测试，人员需求量大，人力投入成本增加，测试过程采用接线端子，过程涉及强电部分，存在测试过电隐患。且原有测试工装无法进行主板单独测试，同时主板内模块元件也无法独立散热，因此研究提出可以改变传统的测试方法和具有主板独立测试逻辑的方案是目前亟待解决的问题。

发明内容

针对传统测试工装效率低下和存在质量隐患的问题，本发明提供一种主板单独测试工装及DCT对接测试的测试装置，通过DCT对接主板独立测试改变原有的装配式散热及接线式测试，大大降低测试条件和减少员工的测试步骤以及作业时间，提高生产效率。

为实现上述目的，本发明选用如下技术方案：一种主板单独测试工装，包括测试工装基座及配置在测试工装基座上的至少一个探针座和控制开关及指示灯，所述探针座用于电性连接待测试主板的测试点，所述探针座通过导线与DCT测试主机连接以传输测试信号，所述控制开关及指示灯与DCT测试主机电性连接，还包括独立散热模块，所述独立散热模块通过散热支架压接在待测试主板的散热区域。

优选地，所述探针座具有顶针及装配在顶针上以使顶针在常规状态下受弹性力作用伸出的弹性件，所述待测试主板放入所述测试工装基座以使测试点与顶针对齐并对顶针进行压接使得待测试主板与探针座电性连接。

优选地，所述独立散热模块具有大支架散热压块、中支架散热压块、小支架散热压块，所述待测试主板具有用于配置散热器的散热区域，所述独立散热模块根据散热区域大小选择对应的散热压块。

优选地，所述散热支架根据所述散热区域大小设置在散热区域上，所述独立散热模块根据选择的散热支架大小选择对应的散热压块。

优选地，所述控制开关包括过载保护短接开关OVC和风机档位开关T-SENSOR。

优选地，所述指示灯包括风机指示灯、温度指示灯和四通阀信号指示灯。

优选地，所述测试工装基座内还设有接触式散热单元，所述接触式散热单元配置底部表面，设有一导热传到面贴合放入的待测试主板。

另一方面，本发明选用如下技术方案：一种DCT对接测试的测试装置，包括上述的一种主板单独测试工装。

相较于现有技术，本发明具有以下有益效果：

本发明采用全新的DCT对接主板独立测试，通过具有弹性件的探针座结构使得与待测试主板的电性连接，借鉴ICT功能测试原理，实现DCT测试逻辑的模块单元化，提高生产效率，满足了后续单元化零件测试的生产需要。同时解决传统测试工装在测试过程采用接线端子模式下其过程涉及强电部分和存在测试过电隐患的安全问题。