[发明专利]一种扫描设备的校正方法和系统

权利要求书

1.一种扫描设备的校正方法，包括：

获取第一本底符合事件数据；

基于所述第一本底符合事件数据，确定本底符合事件对应的参考归一化校正因子；

基于所述参考归一化校正因子和映射关系确定所述扫描设备的归一化校正因子。

2.如权利要求1所述的方法，还包括：

获取第二本底符合事件数据和模体符合事件数据；

基于所述第二本底符合事件数据，确定本底符合事件对应的第一归一化校正因子；

基于所述模体符合事件数据，确定模体符合事件对应的第二归一化校正因子；

基于所述第一归一化校正因子和所述第二归一化校正因子，确定所述映射关系。

3.如权利要求2所述的方法，所述获取第二本底符合事件数据包括：

在采集所述模体符合事件数据之前、之后或同时采集所述第二本底符合事件数据。

4.如权利要求2所述的方法，

所述第一归一化校正因子包括第一几何校正因子、第一晶体干涉校正因子、第一轴向轮廓校正因子、第一探测器环对探测效率校正因子、第一环向轮廓校正因子和第一晶体探测效率校正因子中的至少一项；

所述第二归一化校正因子包括第二几何校正因子、第二晶体干涉校正因子、第二轴向轮廓校正因子、第二探测器环对探测效率校正因子、第二环向轮廓校正因子和第二晶体探测效率校正因子中的至少一项；

所述映射关系包括第一映射关系、第二映射关系、第三映射关系、第四映射关系、第五映射关系和第六映射关系中的至少一项，所述第一映射关系包括所述第一几何校正因子与所述第二几何校正因子的映射关系，所述第二映射关系包括所述第一晶体干涉校正因子与所述第二晶体干涉校正因子的映射关系，所述第三映射关系包括所述第一轴向轮廓校正因子与所述第二轴向轮廓校正因子的映射关系，所述第四映射关系包括所述第一探测器环对探测效率校正因子与所述第二探测器环对探测效率校正因子的映射关系，所述第五映射关系包括所述第一环向轮廓校正因子与所述第二环向轮廓校正因子的映射关系，所述第六映射关系包括所述第一晶体探测效率校正因子与所述第二晶体探测效率校正因子的映射关系。

5.如权利要求4所述的方法，所述基于所述第二本底符合事件数据，确定本底符合事件对应的第一归一化校正因子包括：

循环进行下述步骤，直到确定所有所述第一归一化校正因子，其中，每一轮循环确定所述第一几何校正因子、所述第一晶体干涉校正因子、所述第一轴向轮廓校正因子、所述第一探测器环对探测效率校正因子、所述第一环向轮廓校正因子和所述第一晶体探测效率校正因子中的其中一项所述第一归一化校正因子：

基于所述第二本底符合事件数据，获得当前第一归一化校正因子对应的实际本底符合计数；

计算所述当前第一归一化校正因子对应的理论本底符合计数；

基于所述实际本底符合计数和所述理论本底符合计数，确定所述当前第一归一化校正因子；

其中，若存在所述第一归一化校正因子未完成确定，基于确定的所述当前第一归一化校正因子校正所述第二本底符合事件数据对应的实际本底符合计数。

6.如权利要求4所述的方法，所述基于所述模体符合事件数据，确定模体符合事件对应的第二归一化校正因子包括：

循环进行下述步骤，直到确定所有所述第二归一化校正因子，其中，每一轮循环确定所述第二几何校正因子、所述第二晶体干涉校正因子、所述第二轴向轮廓校正因子、所述第二探测器环对探测效率校正因子、所述第二环向轮廓校正因子和所述第二晶体探测效率校正因子中的其中一项所述第二归一化校正因子：

对所述模体符合事件数据进行物理校正，获得当前第二归一化校正因子对应的实际真符合计数；

计算所述当前第二归一化校正因子对应的理论真符合计数；

基于所述实际真符合计数和所述理论真符合计数，确定所述当前第二归一化校正因子；

其中，若存在所述第二归一化校正因子未完成确定，基于确定的所述当前第二归一化校正因子校正所述模体符合事件数据对应的实际真符合计数。