[发明专利]一种主动降噪调试方法、系统、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种主动降噪调试方法，其特征在于，包括：

获取待测产品的主动降噪功能的测试曲线，所述测试曲线表征所述主动降噪功能的降噪性能；

基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合，得到拟合结果，所述拟合结果包括对所述主动降噪功能进行调试的调试参数；

基于所述调试参数对所述待测产品的主动降噪功能进行调试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设的拟合函数包括边界函数；所述基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合之前，所述方法还包括：

生成所述边界函数，所述边界函数为拟合结束条件。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合包括：

基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，按照所述测试曲线中各不同部分预先设定的权重值，分别对所述测试曲线中各不同部分进行拟合。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合之前，所述方法还包括：

根据所述测试曲线的频率范围配置滤波器类型；

根据所述待测产品的驱动能力配置滤波器数量n；

配置n个所述滤波器类型的所述滤波器。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据所述待测产品的驱动能力配置所述滤波器数量之后，所述方法还包括：

在对所述滤波器进行初始化时，根据所述滤波器数量对所述测试曲线的频率范围进行均分，得到与所述滤波器数量对应的多个频段；

将n个所述滤波器按照各自的滤波器类型均匀分布在所述多个频段中。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

设置滤波器参数的约束范围，所述约束范围为输出的所述滤波器参数的取值范围。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测产品的主动降噪功能的测试曲线，包括：

对所述待测产品的被动降噪性能进行测试，得到第一曲线；

对所述主动降噪功能进行测试，得到第二曲线；

基于所述第一曲线、所述第二曲线及预设降噪公式，得到所述测试曲线。

8.根据权利要求1-7任一项所述的方法，其特征在于，所述基于预设的滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合，得到拟合结果，包括：

将所述预设的滤波器、所述预设的拟合函数及所述测试曲线输入所述预设的约束非线性规划器进行拟合，得到中间结果；

在确定所述中间结果收敛或进行拟合的次数达到预设次数时，将所述中间结果确定为所述拟合结果。

9.一种主动降噪调试系统，其特征在于，包括：

测试装置，用于获取待测产品的主动降噪功能的测试曲线，所述测试曲线表征所述主动降噪功能的降噪性能；

滤波器，用于对所述测试曲线进行滤波；

处理装置，与所述滤波器连接，所述处理装置用于基于所述滤波器、预设的拟合函数及预设的约束非线性规划器，对所述测试曲线进行拟合，得到拟合结果，所述拟合结果包括对所述主动降噪功能进行调试的调试参数；

所述处理装置还用于控制所述滤波器基于所述调试参数对所述待测产品的主动降噪功能进行调试。

10.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-7任一项所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质中存储有计算机程序，当所述计算机程序在计算机上运行时，使得所述计算机执行如权利要求1-7任一项所述的方法。