[发明专利]显示面板及其检测方法、显示装置

说明书

本发明公开了一种显示面板及其检测方法、显示装置，显示面板包括：像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，子像素包括发光元件，检测单元用于感应温度以判断发光元件是否损坏。通过在像素内设置检测单元，通过检测单元感应温度可知发光元件在点亮时是否存在发热状况，能够有效检测出发光元件是否损坏、避免将因阈值电压漂移导致变暗的发光元件判定为损坏、减少耗材、节约成本、准确定位损坏的发光元件的位置，便于对损坏的发光元件进行替换，有助于提升显示面板的显示效果。

技术领域

本发明涉及显示技术领域，更具体地，涉及一种显示面板及其检测方法、显示装置。

背景技术

发光二极管(light emitting diode，LED)是一种能够把电能转化成光能的半导体二极管，微型发光二极管(micro light emitting diode，Micro LED)是尺寸达到100微米以内的发光二极管，具有体积小、亮度高、能耗小、独立控制发光等特点，被广泛地应用于显示屏、照明等领域。

通常微型发光二极管在制作完成后，需要通过巨量转移工艺，将大量的微型发光二极管转移到阵列基板上，从而形成不同尺寸的Micro LED显示面板。在巨量转移的过程中，由于压力、对位等偏差，容易造成部分微型发光二极管损坏，影响显示面板的显示效果。

因此，检测绑定后的微型二极管是否损坏是亟待解决的技术问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种显示面板及其检测方法、显示装置，用以检测绑定后的发光元件是否损坏。

一方面，本发明提供了一种显示面板，包括：显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括：

像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，所述子像素包括发光元件，所述检测单元用于感应温度以判断所述发光元件是否损坏。

另一方面，本发明提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：

子像素，所述子像素包括像素驱动电路，所述像素驱动电路包括：

第一电源电压信号端，用于提供第一电源电压；

第二电源电压信号端，用于提供第二电源电压；

串联在所述第一电源电压信号端、所述第二电源电压信号端之间的驱动模块和发光元件；

检测单元与所述发光元件并联；

点亮所述子像素，在点亮状态下，当所述发光元件损坏导致发热，所述检测单元感应温度，控制电流经所述检测单元流向所述第二电源电压信号端，使所述发光元件被短路而熄灭，确认所述发光元件损坏位置。

又一方面，本发明还提供了一种显示面板的检测方法，所述显示面板包括：显示区和至少部分围绕所述显示区的非显示区；

所述显示区包括：

像素，包括至少一个子像素和至少一个检测单元，所述子像素包括发光元件，所述检测单元为温度传感器；

驱动芯片，位于所述非显示区，所述检测单元与所述驱动芯片电连接；

点亮所述子像素，在点亮状态下，所述发光元件损坏导致发热，所述温度传感器感应温度反馈至所述驱动芯片，所述驱动芯片降低向所述发光元件传输的数据信号的电压，使所述发光元件的亮度变暗，确认所述发光元件损坏位置。

又一方面，本发明提供了一种显示装置，包括上述显示面板。

与现有技术相比，本发明提供的显示面板，至少实现了如下的有益效果：