[发明专利]一种精密测试组件的自动打磨设备及自动打磨方法在审

专利信息
申请号: 202210681331.0 申请日: 2022-06-15
公开(公告)号: CN115026693A 公开(公告)日: 2022-09-09
发明(设计)人: 李瑞峰;张强;郭靖 申请(专利权)人: 深圳顺络电子股份有限公司
主分类号: B24B27/00 分类号: B24B27/00;B24B41/00;B24B41/06;B24B27/02;B24B47/12;B24B47/22;B24B1/00
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀锋
地址: 518110 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 精密 测试 组件 自动 打磨 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,包括工作台,设于所述工作台上的高精度丝杆模组及其驱动部件、打磨部件及其驱动部件,以及固定治具和人机交互装置;

所述打磨部件包括第一砂轮和/或第二砂轮,所述第一砂轮和/或所述第二砂轮的打磨面按预定的打磨角度和位置设于所述固定治具的两侧;

所述固定治具用于并排固定多个待打磨精密测试组件,能在所述高精度丝杆模组的带动下做往复运动;

所述人机交互装置用于打磨参数的设定和/或呈现。

2.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,所述固定治具还设有校准部。

3.如权利要求2所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,所述校准部是设于所述固定治具顶部的校准斜面,所述校准斜面与所述打磨面平行。

4.如权利要求3所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,所述校准斜面包括第一斜面和第二斜面,所述第一斜面和所述第二斜面分别与所述第一砂轮的打磨面和所述第二砂轮的打磨面平行。

5.如权利要求4所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,还包括校准块,所述校准块是具有预设厚度的片状,且上表面和下表面相互平行,用于置于所述第一砂轮和/或所述第二砂轮的打磨面和所述校准斜面之间,以便进行校准操作。

6.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,所述第一砂轮和所述第二砂轮是金刚石砂轮。

7.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,所述固定治具可固定不少于50个待打磨精密测试组件。

8.如权利要求2所述的精密测试组件的自动打磨设备,其特征在于,所述校准部跟所述固定治具是一体结构或分体结构。

9.一种精密测试组件的自动打磨方法,其特征在于,采用如权利要求1-8任一项所述的自动打磨设备,将多个待打磨精密测试组件装设并固定于所述固定治具中后,驱动所述打磨部件旋转并驱动所述高精度丝杆模组往复运动,以带动所述固定治具做往复运动,从而带动所述多个待打磨精密测试组件的打磨部位依次与所述打磨部件接触而得以打磨,并且往复多次,直到打磨完毕。

10.如权利要求1所述的精密测试组件的自动打磨方法,其特征在于,还包括校准操作,根据设定的校准周期或根据打磨效果进行校准操作;

所述校准操作通过所述人机交互装置和/或所述校准块实现。

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