[发明专利]一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法在审

专利信息
申请号: 202210646554.3 申请日: 2022-06-08
公开(公告)号: CN115128373A 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 李尔平;张岭;冯宇茹;李达 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R29/26;G06N20/00
代理公司: 杭州求是专利事务所有限公司 33200 代理人: 林超
地址: 310058 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 主动 学习 辐射源 快速 近场 扫描 方法
【权利要求书】:

1.一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法,其特征在于,方法包括以下步骤:

包括针对辐射源、用机械臂移动探头在扫描面上初始的扫描点处探测辐射场值的步骤S1;

包括根据初始的扫描点的辐射场值实时用机械臂移动探头以主动学习的方式对剩余的扫描点进行近场扫描探测的步骤S2。

2.根据权利要求1所述的一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法,其特征在于:所述步骤S1具体为:

针对给定的辐射源,移动机械臂用探头在扫描面上扫描移动,扫描面上具有扫描点,随机获取一组初始的扫描点,移动机械臂将探头位于每一个初始的扫描点探测,获得各个初始的扫描点的辐射场值。

3.根据权利要求1所述的一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法,其特征在于:所述步骤S2具体为:

S21、当前轮下,以当前未探测过的扫描点作为未扫描点,用已探测过的扫描点的辐射场值经过不同插值函数分别插值处理获得未扫描点的不同初步辐射场值,再对未扫描点的各个初步辐射场值求方差,并选取方差最大的未扫描点;

S22、通过机械臂移动探头到方差最大的未扫描点的位置进行扫描探测获取该未扫描点的辐射场值,且将该未扫描点加入到已探测过的扫描点中;

S23、不断重复步骤S21~S22进行多轮处理0,直到通过机械臂移动探头探测得到的扫描点的个数达到用户所需的个数,最后利用已探测的扫描点和插值函数,得到完整扫描平面的扫描图像。

4.根据权利要求3所述的一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法,其特征在于:所述的不同插值函数为不同种的插值函数,或者不同函数参数的同种插值函数。

5.根据权利要求3所述的一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法,其特征在于:所述的不同插值函数为具有不同核函数的径向基函数。

6.根据权利要求3所述的一种主动学习的辐射源快速近场扫描方法,其特征在于:所述的步骤S21中选取未扫描点中方差最大的未扫描点作为本轮要探测的点。

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