[发明专利]OLED显示器实际应用环境下的残影时间评测方法

说明书

OLED显示器实际应用环境下的残影时间评测方法，属于OLED显示器残影评测技术领域，具体为一种OLED显示器在实际应用环境下的残影时间评测方法。本发明的方法首先基于黑白棋盘格显示下的残影出现时间，结合OLED显示器实际使用模式和外界温度进行实际应用环境下的器件残影时间的推算。本发明的方法解决了现有的OLED显示器残影出现时间的评估方法中存在的脱离实际应用环境的问题，考虑实际应用环境的影响提出了一套科学合理的残影出现时间的评估方法。

技术领域

本发明属于OLED显示器性能评测技术领域，具体为一种OLED显示器实际应用环境下的残影时间评测方法。

背景技术

OLED，即有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode)是近年来发展较快的一种新兴显示技术，是通过有机材料自发光来实现显示，该显示技术具有自主发光、低电压直流驱动、全固化、视角宽、重量轻、节省电能、工艺简单等一系列特点，被业界公认是继LCD之后的第三代显示技术，目前已越来越多地应用在手机、数码相机等便携产品中。

OLED显示器由于自发光的特性，在OLED屏幕长时间显示静态画面和高亮度画面后，有机材料会因为持续发光而加快老化速度，在显示屏幕上留下显示画面的残影，从而影响OLED 显示器的使用，而从显示器开始使用到出现残影影像的时间就定义为残影时间。

依照王俊生等人论文公开的残影时间常规评测方法，起始时间点为T₁，OLED显示器开始并持续播放差异色块图像；每隔一段时间间隔t时,切换播放纯色色块图像,用色彩分析仪测试纯色色块的区域亮度；当色块的一区域和二区域亮度差异达到5％时,时间记为T_n,则认为残影产生,则残影时间为T_n～T₁；否则继续上述过程直至残影产生，这种常规检测方法一般要达到上万小时，这种检测方法所采用差异色块图像亮度差异较小，且差异色块图像仅占整个显示器的较小区域，并未进行显示器的全屏差异化图像测试，该测试方法无法表征出显示器极限测试条件下的残影数据，此外该检测方法仅测评了列举方法下的残影时间，并未引入影响残影时间的相关因子。

发明内容

本发明的目的是提出一种接近实际应用环境下的残影评测方法，用于全面评价接近实际使用环境下的残影时间。

本发明的一种OLED显示器实际应用环境下的残影时间评测方法，其特征在于：用全屏黑白棋盘格显示的方式，黑白棋盘格显示的方式构建了差异化图像亮度差异的极值条件，通过全屏黑白画面显示来确认黑白棋盘格条件下的残影出现时间，结合OLED显示器实际使用模式以及使用环境温度进行实际应用环境下的残影时间的推算，具体为：

①RI_act＝RI_model×f_temp；

②RI_model＝f_model×RI_pattern；

③f_model＝f_diff×f_work；

④f_diff＝[1/(L_diff/L_pattern)^1.7]；

合并以上公式，即得：

RI_act＝RI_model×f_temp＝f_model×RI_pattern×f_temp＝f_diff×f_work×RI_pattern×f_temp＝[1/(L_diff/L_pattern)^1.7]×f_work