[发明专利]基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法、设备

权利要求书

1.一种基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，包括步骤：在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测时，通过检测减薄缺陷起始点的反射叠加波幅值来对减薄缺陷起始点的精确定位；

所述反射叠加波通过如下步骤产生：激发一次超声横波后来自未减薄位置处和减薄位置处四个二次反射回波中的其中两个反射回波发生相互叠加得到的回波信号作为所述反射叠加波。

2.根据权利要求1所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述多种形状包括矩形、椭圆形、三角形。

3.根据权利要求1所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述在对结构表面的多种形状减薄缺陷进行超声横波探测包括使用超声C扫描的方法。

4.根据权利要求1所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述结构表面所处的环境包括常温环境和高温环境。

5.根据权利要求3所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，所述超声C扫描的方法包括如下子步骤：

S1，在结构表面产生减薄缺陷位置的上方范围内进行超声C首轮粗扫描；

S2，在完成首轮粗扫描后，缩小超声C扫描范围，细化减小扫描步长，以此类推进行细扫描；

S3，当结构表面的减薄缺陷位置处于某一超声C扫描超声探头所能探测到的范围内时，控制超声C扫描超声探头激发一次超声横波，然后来自未减薄位置处和减薄位置处四个二次反射回波中的其中两个反射回波发生相互叠加的回波信号即为所述反射叠加波的回波信号；

S4，在进行超声C扫描的细扫描过程中，根据上一轮的超声C扫描结果，不断缩小扫描范围、细化扫描步长，经过若干轮扫描后，对比所有扫描位置中所述反射叠加波的回波信号，此回波信号幅值最大的超声激发位置即为减薄缺陷起始点。

6.根据权利要求5所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，在步骤S1中，所述进行超声C首轮粗扫描为从左至右或从右至左。

7.根据权利要求5所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，在步骤S4中，所述进行超声C扫描的细扫描过程为从左至右或从右至左。

8.根据权利要求5所述的基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位方法，其特征在于，在步骤S4中，当超声C扫描的超声回波只出现两个明显的、稳定的回波波形时，超声C扫描超声探头所能探测到的范围内没有减薄缺陷。

9.一种基于超声横波的结构表面减薄缺陷起始点定位设备，其特征在于，包括处理器和存储器，在存储器存储有程序，当程序被处理器加载时执行如权利要求1~8中任一项所述方法。