[发明专利]一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法

权利要求书

1.一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，所述方法包括：

对绝缘子进行表面三维点云扫描，以得到绝缘子的表面三维点云；

对绝缘子表面三维点云进行切片，以得到切片上的所有点云；

对绝缘子进行旋转一周切片，以得到绝缘子一周的中心切片；

对所有切片上的点云进行分段拟合；

根据拟合的结果，计算出绝缘子偏斜度。

2.根据权利要求1所述的一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，对绝缘子进行表面三维点云扫描，以得到绝缘子的表面三维点云包括：

使用激光扫描仪扫描获得绝缘子的表面三维点云，旋转一周，以获得绝缘子一周的表面三维点云。

3.根据权利要求2所述的一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，对绝缘子表面三维点云进行切片包括：

使用平面对绝缘子表面三维点云进行切片。

4.根据权利要求3所述的一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，平面的方程为：

xcosα+ycosβ+zcosγ＝p；

其中，x、y以及z分别为点在X、Y、Z轴上坐标；α、β、γ为平面法向量的方向角，p为原点到平面的距离。

5.根据权利要求4所述的一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，所述拟合包括曲线拟合以及直线拟合，其中，

曲线拟合的公式为：

u＝av³+bv²+cv+d；

针对切片平面，上式中v为平面上下方向的坐标，对应点云z坐标；u为平面左右方向的坐标，对应点云x坐标和y坐标的在平面上的合成，a、b、c、d为曲线拟合参数；

直线拟合的公式为：

av+bu+c＝0。

6.根据权利要求5所述的一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，所述绝缘子偏斜度包括绝缘子上的钢脚偏斜度以及绝缘子上的铁帽偏斜度。

7.根据权利要求6所述的一种盘形悬式瓷绝缘子偏斜程度的检测方法，其特征在于，根据拟合的结果，计算出绝缘子偏斜度包括：

根据拟合的结果，计算出绝缘子的中心线、钢脚中心线以及铁帽中心线；

根据绝缘子的中心线、钢脚中心线以及铁帽中心线，计算钢脚偏斜度以及铁帽偏斜度。