[发明专利]一种高频电流局放信号采样装置及方法有效
| 申请号: | 202210610291.0 | 申请日: | 2022-05-31 |
| 公开(公告)号: | CN114966345B | 公开(公告)日: | 2023-07-21 |
| 发明(设计)人: | 潘鑫;孙程英;李智 | 申请(专利权)人: | 北京泰岳天成科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/12 | 分类号: | G01R31/12;G01R31/14;G01R1/30 |
| 代理公司: | 北京弘权知识产权代理有限公司 11363 | 代理人: | 李少丹;许伟群 |
| 地址: | 102600 北京市大兴区北京经*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高频 电流 信号 采样 装置 方法 | ||
1.一种高频电流局放信号采样装置,应用于高压电力设备绝缘性能检测,其特征在于,包括:
采样时钟生成电路用于生成预设采样时钟信号,分别传输至移相电路组和整形电路组;
所述移相电路组用于接收所述预设采样时钟信号和预设的相移调整控制信号,按照预设的相移调整控制信号对所述预设采样时钟信号进行移相处理,得到多个移相采样时钟信号并传输至所述整形电路组,所述预设的相移调整控制信号为可变信号,用于实现采样点的按需分布;所述多个移相采样时钟信号中的最后一个移相采样时钟信号与所述预设采样时钟信号的相位间隔小于等于九十度;
所述整形电路组用于对接收到的所述预设采样时钟信号和多个所述移相采样时钟信号进行整形处理,得到多个驱动采样时钟信号,传输至采样电路组;
所述采样电路组用于按照多个所述驱动采样时钟信号对外部高频电流局放信号进行实时采样,得到多个高频电流局放采样信号并进行实时输出,所述采样电路组包括模数转换器ADC,所述ADC的频率低于被采信号的频率。
2.根据权利要求1所述的高频电流局放信号采样装置,其特征在于,所述移相电路组包括多个依次串联的移相电路;其中,相邻两个所述移相电路输出的两个所述移相采样时钟信号的相位间隔为预设相位间隔;
其中,第一个所述移相电路用于接收所述预设采样时钟信号,并进行所述预设相位间隔的移相处理,得到第一个所述移相采样时钟信号并分别传输至第二个所述移相电路和所述整形电路组;
目标移相电路用于接收前一个所述移相电路输出的所述移相采样时钟信号,并进行所述预设相位间隔的移相处理,得到对应的移相采样时钟信号,分别传输至下一个所述移相电路和所述整形电路组;其中,所述目标移相电路为所述移相电路组中除第一个移相电路和最后一个移相电路之外的任一个所述移相电路;
最后一个所述移相电路用于接收前一个所述移相电路输出的所述移相采样时钟信号,并进行预设相位间隔的移相处理,得到最后一个所述移相采样时钟信号,传输至所述整形电路组。
3.根据权利要求1所述的高频电流局放信号采样装置,其特征在于,所述采样时钟生成电路包括晶体振荡器、以及与所述晶体振荡器连接的门闸电路;
所述晶体振荡器用于产生基准采样时钟信号;
所述门闸电路用于接收外部工频零点触发信号,并根据所述外部工频零点触发信号对所述基准采样时钟信号进行波形整形和开关输出控制处理,得到所述预设采样时钟信号。
4.根据权利要求1所述的高频电流局放信号采样装置,其特征在于,所述整形电路组包括多个整形电路;其中,
第一个所述整形电路用于接收所述预设采样时钟信号并进行整形处理,得到第一个所述驱动采样时钟信号,并传输至所述采样电路组;
目标整形电路的输入端接至所述移相电路组的输出端,用于接收对应的所述移相采样时钟信号并进行整形处理,得到对应的所述驱动采样时钟信号,并传输至所述采样电路组;其中目标整形电路为所述整形电路组中除第一个所述整形电路外的任一个所述整形电路。
5.根据权利要求1所述的高频电流局放信号采样装置,其特征在于,所述采样电路组包括多个采样电路;其中,
每一个所述采样电路的输入端均接至所述整形电路组,用于接收对应的所述驱动采样时钟信号,并根据对应的所述驱动采样时钟信号对外部高频电流局放信号进行实时采样,获得对应的所述高频电流局放采样信号并进行实时输出。
6.根据权利要求1所述的高频电流局放信号采样装置,其特征在于,还包括连接至所述采样电路组输出端的阻抗匹配电路;
所述阻抗匹配电路用于减少所述高频电流局放采样信号的反射,以平缓所述采样电路组的采样过程。
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