[发明专利]设置于固态硬盘主控芯片内的坏块扫描电路及扫描方法在审
申请号: | 202210606670.2 | 申请日: | 2022-05-31 |
公开(公告)号: | CN114911662A | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 谢元禄;习凯;季兰龙;霍长兴;张坤;呼红阳;卢年端 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | G06F11/22 | 分类号: | G06F11/22;G11C29/04 |
代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 房德权 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 置于 固态 硬盘 主控 芯片 扫描 电路 方法 | ||
本发明公开了设置于固态硬盘主控芯片内的坏块扫描电路及扫描方法,涉及固态硬盘技术领域,固态硬盘内包括闪存模块和主控芯片,主控芯片包括扫描电路和CPU,闪存模块包括多个出厂块,出厂块中含有出厂坏块,扫描电路包括:接口模块,接口模块与闪存模块连接,以用于读取闪存模块中的出厂块;NHOST模块,NHOST模块分别连接接口模块和CPU,以用于从接口模块读取的出厂块中识别出厂坏块,并将出厂坏块信息传送至CPU;用于控制扫描电路工作流程的MSM模块,CPU与MSM模块连接,MSM模块分别连接NHOST模块和接口模块。本申请在在开卡量产的工序中,可以省略掉坏块扫描的步骤,缩短时间、提高生产效率。
技术领域
本发明涉及固态硬盘技术领域,尤其涉及设置于固态硬盘主控芯片内的坏块扫描电路及扫描方法。
背景技术
在SSD固态硬盘的生产中,现有技术都有专门的坏块扫描的步骤,要么是一个单独的扫描出厂坏块的步骤,要么是作为“开卡”工序的一个子步骤,待扫出坏块后,再写入进SSD内部的存储空间。
这些步骤需要消耗相应的生产时间或测试时间,相应地也降低了SSD固态硬盘的生产效率/测试效率。
发明内容
本发明的目的在于提供设置于固态硬盘主控芯片内的坏块扫描电路及扫描方法,以提高生产效率。
为解决上述技术问题,本发明采用如下技术方案:
本发明实施例的第一方面提供了一种设置于固态硬盘主控芯片内的坏块扫描电路,所述固态硬盘内包括闪存模块和主控芯片,所述主控芯片包括扫描电路和CPU,所述闪存模块包括多个出厂块,所述出厂块中含有出厂坏块,所述扫描电路包括:接口模块,所述接口模块与所述闪存模块连接,以用于读取所述闪存模块中的出厂块;NHOST模块,所述NHOST模块分别连接所述接口模块和所述CPU,以用于从所述接口模块读取的出厂块中识别出厂坏块,并将所述出厂坏块信息传送至CPU;用于控制所述扫描电路工作流程的MSM模块,所述CPU与所述MSM模块连接,所述MSM模块分别连接所述NHOST模块和所述接口模块。
在一些实施例中,所述扫描电路还包括用于与CPU通信的UARTC模块和串口总线,所述CPU通过所述串口总线与所述UARTC模块连接,所述UARTC模块分别连接所述NHOST模块和所述MSM模块。
在一些实施例中,所述扫描电路还包括用于缓存数据的RAM模块,所述RAM模块设置于所述NHOST模块和所述UARTC模块之间。
在一些实施例中,所述主控芯片还包括用于与所述接口模块切换使用的NANDC模块,所述NANDC模块分别连接所述闪存模块和所述串口总线。
在一些实施例中,所述扫描电路还包括用于切换所述接口模块和所述NANDC模块的MUX模块,所述MUX模块分别连接所述接口模块、所述NANDC模块和所述闪存模块,所述MSM模块连接控制所述MUX模块。
本发明实施例的第二方面提供了一种扫描方法,所述出厂坏块包括第一类出厂坏块和第二类出厂坏块,所述扫描方法包括:所述接口模块读取所述闪存模块中的出厂块,并识别出第二类出厂坏块;所述NHOST模块从所述出厂块中识别出所述第一类出厂坏块,并将所述第一类出厂坏块和第二类出厂坏块的信息传送至所述CPU;所述CPU将所述第一类出厂坏块和第二类出厂坏块的信息录入存储器;所述CPU在对所述出厂块进行读写擦操作时,避开与所述存储器中信息一致的坏块。
在一些实施例中,在所述接口模块读取所述闪存模块中的出厂块,并识别出第二类出厂坏块之前,所述方法还包括:所述固态硬盘装机并首次上电开机后,所述固态硬盘自动进行如上所述的扫描方法进行固态硬盘坏块的扫描。
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