[发明专利]一种框架梁低周往复加载的试验结构及试验方法有效

专利信息
申请号: 202210592254.1 申请日: 2022-05-27
公开(公告)号: CN114964849B 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 韩小雷;林静聪;郑振光;何子鸣;季静;丁迅 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00
代理公司: 广州润禾知识产权代理事务所(普通合伙) 44446 代理人: 郑永泉
地址: 510000 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 框架 梁低周 往复 加载 试验 结构 方法
【权利要求书】:

1.一种框架梁低周往复加载的试验结构,其特征在于,包括试验层框架梁、试验层板、基础层梁、反力层梁和框架柱,所述试验层框架梁、试验层板、基础层梁、反力层梁和框架柱形成三层的x跨×y跨框架柱结构,x为大于或等于3的整数,y为大于或等于2的整数,所述试验层框架梁、试验层板连接所述框架柱形成试验层作为第二层,所述基础层梁连接所述框架柱形成基础层作为第一层,所述反力层梁连接所述框架柱形成反力层作为第三层;

所述试验层中非边梁的所述试验层框架梁在其跨中,通过两个背靠背相互贴合的金属件断开;所述试验层中的所述试验层板从其跨中至断开的所述试验层框架梁的跨中,通过两个背靠背相互贴合的所述金属件断开;两个所述金属件相互贴合之处涂抹有润滑剂;

所述金属件包括上翼缘、下翼缘和腹板,所述上翼缘、腹板、下翼缘依次连接呈槽形;

断开所述试验层框架梁的所述金属件的上翼缘顶面与所述试验层框架梁的顶面平齐、下翼缘的底面与所述试验层框架梁的底面平齐;

断开所述试验层板的所述金属件的上翼缘顶面与所述试验层板的顶面平齐、下翼缘的底面与所述试验层板的底面平齐;

两个相互贴合的所述金属件的腹板相互贴合,两个所述腹板相互贴合之处涂抹有润滑剂;

所述试验层板在断开处的厚度局部增大,在所述试验层框架梁和所述试验层板设有传感器;

断开所述试验层框架梁的所述金属件包裹所述试验层框架梁断开的截面,断开所述试验层板的所述金属件包裹所述试验层板断开的截面;

断开所述试验层框架梁的所述金属件的上翼缘底面和/或下翼缘顶面,与所述试验层框架梁的纵筋焊接;断开所述试验层板的所述金属件的上翼缘底面和/或下翼缘顶面,与所述试验层板的纵筋焊接;

沿着一个方向断开所述试验层板的金属件,与另一个方向断开所述试验层板的金属件相互连接处,采用切角处理,并外贴金属连接片连接或者焊接连接。

2.根据权利要求1所述的一种框架梁低周往复加载的试验结构,其特征在于,不同所述试验层框架梁的配筋率和/或配箍率不同。

3.根据权利要求1至2任一项所述的一种框架梁低周往复加载的试验结构,其特征在于,所述试验层板在局部增大处的厚度为所述试验层框架梁高度的0.5倍~1.0倍。

4.根据权利要求1至2任一项所述的一种框架梁低周往复加载的试验结构,其特征在于,所述传感器包括应变片和位移计;

所述应变片设置在所述试验层框架梁的纵筋距离所述框架柱的边缘线一定距离的位置,和所述试验层板的纵筋距离所述框架柱的边缘线一定距离的位置以及所述试验层框架梁靠近所述框架柱的第一个箍筋;

所述位移计设置在所述试验层框架梁的两端。

5.根据权利要求4所述的一种框架梁低周往复加载的试验结构,其特征在于,在所述试验层框架梁的一端所设置的所述位移计为两个,在所述试验层框架梁同一端所设置的两个所述位移计高度不同,所述位移计还设置在所述试验层框架梁的加载点。

6.一种框架梁低周往复加载的试验方法,其特征在于,用于在如权利要求1至5任一项所述的框架梁低周往复加载的试验结构上进行试验,包括:

在所述试验层框架梁的上面设置上千斤顶,在所述试验层框架梁的下面设置下千斤顶,所述上千斤顶的上下分别抵接于所述反力层梁和所述试验层框架梁,所述下千斤顶的上下分别抵接于所述试验层框架梁和所述基础层梁;

通过所述上千斤顶和所述下千斤顶的交替加载,对所述试验层框架梁进行低周往复加载。

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