[发明专利]一种电容触摸屏响应时间的测试系统以及测试方法

权利要求书

1.一种电容触摸屏响应时间的测试系统，其特征在于，包括：笔头接触模块、点亮模块、震动感应模块、光敏感应模块、微控制单元MCU模块以及数据处理模块；

所述笔头接触模块分别与所述震动感应模块以及所述点亮模块连接，所述笔头接触模块用于控制笔头与待测试电容触摸屏的表面进行接触，所述震动传感器用于接收所述笔头与所述待测试电容触摸屏的表面发生接触时所产生的震动信号，所述点亮模块用于当检测到所述笔头与所述待测试电容触摸屏的表面发生接触时，点亮所述待测试电容触摸屏；

所述MCU模块分别与所述震动感应模块以及所述光敏感应模块连接，所述震动感应模块用于当检测到所述待测试电容触摸屏发生震动时，输出第一电信号；所述光敏感应模块用于当检测到所述待测试电容触摸屏点亮时，输出第二电信号；所述MCU模块用于当接收到所述第一电信号时，开始计数；当接收到所述第二电信号时，停止计数；

所述数据处理模块与所述MCU模块连接，所述数据处理模块用于接收所述MCU模块在开始计数时所对应的第一计数值以及停止计数时所对应的第二计数值，并根据所述第一计数值与所述第二计数值的差值计算得到所述待测试电容触摸屏的响应时间。

2.根据权利要求1中所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：电容触摸屏检测模块；

所述电容触摸屏检测模块与所述笔头接触模块连接，所述电容触摸屏检测模块用于当检测到所述待测试电容触摸屏到达预设位置时，向所述笔头接触模块发送启动指令。

3.根据权利要求2中所述的测试系统，其特征在于，所述电容触摸屏检测模块为接近式位置传感器。

4.根据权利要求1中所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：显示模块；

所述显示模块与所述数据处理模块连接，所述显示模块用于显示所述数据处理模块计算得到的所述待测试电容触摸屏的响应时间。

5.根据权利要求1中所述的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括：报警模块；

所述报警模块与所述数据处理模块连接，所述报警模块用于当检测到所述待测试电容触摸屏的响应时间大于预设值时，发出报警信号。

6.根据权利要求1中所述的测试系统，其特征在于，所述数据处理模块根据所述MCU模块的CPU时钟频率将所述第一计数值与所述第二计数值的差值转换成所述待测试电容触摸屏的响应时间。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述光敏感应模块为光敏电阻。

8.根据权利要求1至6中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述光敏感应模块为光敏二极管。

9.根据权利要求1至6中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述震动感应模块为压电式加速度传感器。

10.一种电容触摸屏响应时间的测试方法，其特征在于，包括：

震动感应模块获取震动信号，并根据所述震动信号生成第一电信号，所述震动信号为笔头与待测试电容触摸屏的表面发生接触时所产生的震动信号；

当MCU模块接收到所述震动感应模块发送的所述第一电信号时，所述MCU模块开始进行计数，并获取对应的第一计数值；

光敏感应模块获取光敏信号，并根据所述光敏信号生成第二电信号，所述光敏信号为点亮模块点亮所述待测试电容触摸屏时所产生的光敏信号；

当所述MCU模块接收到所述光敏感应模块发送的所述第二电信号时，所述MCU模块停止进行计数，并获取对应的第二计数值；

数据处理模块接收所述MCU模块发送的所述第一计数值和所述第二计数值；

所述数据处理模块根据所述第一计数值和所述第二计数值的差值计算得到所述待测试电容触摸屏的响应时间。