[发明专利]一种储层品质评价方法

说明书

本发明属于矿场地球物理测井解释成果在生产中的应用技术，具体的说是通过储层地质参数定量表征技术，简洁、方便评价储层品质，为勘探开发方案的制定提供技术支撑。一种储层品质评价方法，方法如下：获得储层参数；储层参数包括孔隙度、含油饱和度S_o、胶结指数m、饱和度指数n、泥质含量SH、束缚水饱和度S_wi；将上述储层参数代入至储层品质因子解释公式得到储层品质因子P；若P≥20，则该对应储层为Ⅰ类好储层；若5≤P＜20，则该对应储层为Ⅱ类中等储层；若P＜5，则该对应储层为Ⅲ类差储层。本发明提供了一种计算储层品质因子的计算方法，并通过该储层品质因子对储层品质进行分类评价，克服了单一地质参数评价储层不全面的问题。

技术领域

本发明属于矿场地球物理测井解释成果在生产中的应用技术，具体的说是通过储层地质参数定量表征技术，简洁、方便评价储层品质，为勘探开发方案的制定提供技术支撑。

背景技术

在测井资料解释中，计算的储层地质参数包括泥质含量、孔隙度、饱和度等，虽然每个参数的物理意义非常清楚，能定量表征储层的某一特征，但不能综合评价储层的优劣，这对地质和开发技术人员形成一定的困扰。在储层综合评价中，这些定量表征储层特性的参数，哪些是主要评价参数，哪些是次要评价参数，之间是怎么相互影响，这些还没有一个准确的认识。因此需要研究一种综合各种参数，能准确评价储层的技术。

发明内容

本发明旨在针对上述问题，提出一种简洁、方便且全面准确的储层品质评价方法，利用泥质含量、孔隙度、含油饱和度及束缚水饱和度四种测井解释参数，借助胶结指数m及饱和度指数n，建立了储层品质因子，根据储层品质因子对储层品质进行评价。

本发明的技术方案在于：

一种储层品质评价方法，方法如下：

获得储层参数；储层参数包括孔隙度φ、含油饱和度S_o、胶结指数m、饱和度指数n、泥质含量SH、束缚水饱和度S_wi；将上述储层参数代入至储层品质因子解释公式得到储层品质因子P；

若P≥20，则该对应储层为Ⅰ类好储层；

若5≤P＜20，则该对应储层为Ⅱ类中等储层；

若P＜5，则该对应储层为Ⅲ类差储层。

其中，所述孔隙度通过AC孔隙度测井曲线、RHOB孔隙度测井曲线或NPHI孔隙度测井曲线直接计算得到，或者通过RHOB孔隙度测井曲线及NPHI孔隙度测井曲线交会计算得到。

所述胶结指数m通过地层因素F与孔隙度交会图交会得到；饱和度指数n通过含水饱和度S_w与电阻增大率I交会图交会得到。

所述含油饱和度S_o通过饱和度解释模型得到，所述饱和度解释模型为阿尔奇模型：通过地层因素F与孔隙度交会图交会得到岩性系数a，通过含水饱和度S_w与电阻增大率I交会图交会得到岩性系数b；将岩性系数a、岩性系数b、胶结指数m和饱和度指数n代入至阿尔奇公式或其改进公式计算得到含油饱和度S_o。

所述泥质含量SH通过测井曲线得到，所述测井曲线为GR测井曲线或SP测井曲线。

所述束缚水饱和度S_wi通过常规测井曲线的束缚水饱和度模型解释得到或者通过实验室用岩心分析束缚水饱和度得到。

所述束缚水饱和度S_wi与含油饱和度S_o满足S_wi+S_o≤1。

所述泥质含量SH≤0.35。

本发明的技术效果在于：

本发明提供了一种计算储层品质因子的计算方法，并通过该储层品质因子对储层品质进行分类评价，克服了单一地质参数评价储层不全面的问题。