[发明专利]一种优化外延少子寿命的方法在审

专利信息
申请号: 202210566892.6 申请日: 2022-05-24
公开(公告)号: CN114892267A 公开(公告)日: 2022-08-12
发明(设计)人: 张坤;杜金生;张强;蔡闯;潘焱 申请(专利权)人: 中环领先半导体材料有限公司
主分类号: C30B25/16 分类号: C30B25/16;C30B25/18
代理公司: 苏州高专知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32474 代理人: 冷泠
地址: 214200 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 优化 外延 少子 寿命 方法
【权利要求书】:

1.一种优化外延少子寿命的方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1、更改进气分配盒涂层,在金属材质外增加涂层;

S2、平衡反应腔压力,在硅片传输过程中,传输腔的压力稍大于反应腔,减少尾气端杂质元素的反灌;

S3、通过原位抛光腐蚀方式改善硅片表面的粗糙度和洁净度,化学抛光修复表面的晶格结构,从而降低外延和衬底界面层的缺陷密度。

2.根据权利要求1所述的优化外延少子寿命的方法,其特征在于:所述S1中调整反应腔尾气处理器和传输腔尾气处理器的负压大小,使得在硅片传输过程中,传输腔的压力稍大于反应腔。

3.根据权利要求2所述的优化外延少子寿命的方法,其特征在于:反应腔尾气处理器负压为-2.5torr。

4.根据权利要求3所述的优化外延少子寿命的方法,其特征在于:传输腔尾气处理器的负压为-1.5torr。

5.根据权利要求4所述的优化外延少子寿命的方法,其特征在于:气体的三条流向分别是:反应腔向反应腔尾气处理器流动、传输腔向传输腔尾气处理器流动、传输腔微量高纯氮气向反应腔流动。

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