[发明专利]一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排及测试系统

权利要求书

1.一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，其特征在于，包括：覆在介质基板(10)上、下表面的第一覆铜板(11)、第二覆铜板(12)，第一连接组件(13)、第二连接组件(14)、第一柔性线圈电流传感器(15)、第二柔性线圈电流传感器(16)；所述的第一覆铜板(11)、第二覆铜板(12)上分别开设用于水平安装第一柔性线圈电流传感器(15)、第二柔性线圈电流传感器(16)的第一绝缘槽和第二绝缘槽；所述的第一绝缘槽将第一覆铜板(11)分割为两部分，所述的第一连接组件(13)跨过第一柔性线圈电流传感器(15)连接第一覆铜板(11)上被第一绝缘槽分割的两部分，所述的第二绝缘槽将第二覆铜板(12)分割为两部分，所述的第二连接组件(14)跨过第二柔性线圈电流传感器(16)连接第二覆铜板(12)上被第二绝缘槽分割的两部分。

2.根据权利要求1所述的一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，所述的第一绝缘槽和第二绝缘槽垂直于纸面的投影重合。

3.根据权利要求2所述的一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，所述的第一柔性线圈电流传感器(15)、第二柔性线圈电流传感器(16)垂直于纸面的投影重合。

4.根据权利要求1所述的一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，所述的第一绝缘槽包括：第一圆弧形绝缘安装槽(110)、第一上绝缘缝隙(111)以及第一下绝缘缝隙(112)；所述的第一上绝缘缝隙(111)、第一圆弧形绝缘安装槽(110)、第一下绝缘缝隙(112)首尾依次贯通连接，将第一覆铜板(11)分割为第一凸起块(113)和第一凹陷块(114)两部分；所述的第二绝缘槽包括：第二圆弧形绝缘安装槽(120)、第二上绝缘缝隙(121)以及第二下绝缘缝隙(122)；所述的第二上绝缘缝隙(121)、第二圆弧形绝缘安装槽(120)、第二下绝缘缝隙(112)首尾依次贯通连接，将第二覆铜板(12)分割为第二凸起块(123)和第二凹陷块(124)两部分。

5.根据权利要求1所述的一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，其特征在于，所述的第一柔性线圈电流传感器(21)、第二柔性线圈电流传感器(22)均采用罗氏线圈。

6.根据权利要求1所述的一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，其特征在于，所述的介质基板(10)采用PCB板。

7.根据权利要求4所述的一种回路对称的开关器件双脉冲测试叠层母排，其特征在于，所述的第一连接组件(13)和第二连接组件(14)均采用多个并联的焊针，多个并联的焊针构成圆弧形焊针排。

8.一种采用权利要求1至7任一项所述的叠层母排的开关器件双脉冲测试系统，其特征在于，包括：支撑电容C、固态开关KT、第一开关K1、第二开关K2；所述的支撑电容C的正极与固态开关KT的一端连接，固态开关KT的另一端与叠层母排的第一覆铜板(11)连接，支撑电容C的负极与第二覆铜板(12)连接；所述的第一开关K1与第二开关K2串联后，第一开关K1的非串联端连接在固态开关KT与第一覆铜板(11)的连接公共点，第二开关K2的非串联端连接在支撑电容C与第二覆铜板(12)的连接公共点。

9.根据权利要求8所述的开关器件双脉冲测试系统，其特征在于，还包括：开关管Q1、开关管Q2、感性负载L；开关管Q1与开关管Q2构成半桥结构，开关管Q1的集电极与第一覆铜板(11)连接，开关管Q2的发射极与第二覆铜板(12)连接；所述的感性负载L的一端连接在半桥结构的中点，感性负载L的另一端连接在第一开关K1与第二开关K2的串联公共点。

10.根据权利要求9所述的开关器件双脉冲测试系统，其特征在于，测试开关管Q1和快恢复二极管D2的方法如下：

(1)断开第一开关K1、闭合第二开关K2，在开关管Q1的栅极施加双脉冲波形；

(2)t1时间段，开关管Q1导通，电流路径为：支撑电容C正极→固态开关KT→叠层母排的第一覆铜板11→开关管Q1→感性负载L→第二开关K2→支撑电容C负极，此时安装在叠层母排的第一覆铜板11上的第一柔性线圈电流传感器15采集电流路径的电流信号；

(3)t2时间段，开关管Q1关闭，此时快恢复二极管D2续流，电流路径为：感性负载L的右端→第二开关K2→叠层母排的第二覆铜板12→快恢复二极管D2→感性负载L的左端，此时安装在叠层母排的第二覆铜板12上的第二柔性线圈电流传感器16采集电流路径的电流信号；

(4)t3时间段，开关管Q1导通，给快恢复二极管D2施加反向电压，使其关断，t3时间段的电流路径与t1时间段相同。