[发明专利]基于改进的普朗克测温公式的红外热像仪精确测温方法

权利要求书

1.一种基于改进的普朗克测温公式的红外热像仪精确测温方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)通过红外热像仪扫描被测物体上1～14μm光谱段中的：温度为T1时的热辐射强度Ψ1(λi，T1)、温度为T2时的热辐射强度Ψ2(λi，T2)；其中，λi为第iμm光谱的辐射波长，i＝1～14μm；

2)将热辐射强度Ψ1(λi，T1)和Ψ2(λi，T2)代入如下改进的普朗克测温公式，解方程获取被测物体第iμm辐射波长的表征系数a、b：

Ψ1(λi,T1)＝a*λi^-5(exp(b/λi*T1)-1)^-1

Ψ2(λi,T2)＝a*λi^-5(exp(b/λi*T2)-1)^-1

式中，a是对应普朗克公式中常数C1的被测物体的表征系数，b是对应普朗克公式中常数C2的被测物体的表征系数，在这里，被测物体的表征系数a、b，是随被测物体的材料成分、温度以及测量波长不同而不同，a的单位为瓦·厘米²，b的单位为厘米·K；

3)将获得的两个表征系数a、b代入如下改进的普朗克测温公式，得到热辐射强度为Ψ(λ,T)的温度T：

Ψ(λ,T)＝a*λ^-5(exp(b/λ*T)-1)^-1

式中，λ为光谱的辐射波长，Ψ(λ,T)是在辐射波长为λ、温度为T时的热辐射强度。