[发明专利]三维拓扑结构的截图方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种三维拓扑结构的截图方法，其特征在于，包括：

响应于用户的触发操作，从三维拓扑结构中确定目标拓扑结构；其中，所述目标拓扑结构包括目标拓扑元素和各所述目标拓扑元素的三维坐标信息，所述目标拓扑元素包括拓扑节点、文字提示和节点边框中的至少一种；

基于各所述目标拓扑元素的三维坐标信息和待展示区域的第一尺寸信息，确定用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的第二尺寸信息；其中，所述待展示区域用于展示所述目标拓扑结构的截图；

基于各所述目标拓扑元素的三维坐标信息和所述第二尺寸信息，对位于所述截图边框中的所述目标拓扑结构进行居中处理，以完成所述目标拓扑结构的截图；

所述基于各所述目标拓扑元素的三维坐标信息和待展示区域的第一尺寸信息，确定用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的第二尺寸信息，包括：

将各所述目标拓扑元素的三维坐标信息转换为二维坐标信息；

基于各所述目标拓扑元素的二维坐标信息，确定所述目标拓扑结构的第三尺寸信息；其中，所述第三尺寸信息包括各所述目标拓扑元素之间的最大横向尺寸和最大纵向尺寸；

基于所述第三尺寸信息和待展示区域的第一尺寸信息，确定用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的第二尺寸信息。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第三尺寸信息和待展示区域的第一尺寸信息，确定用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的第二尺寸信息，包括：

在所述最大横向尺寸不超过待展示区域的横向尺寸且所述最大纵向尺寸不超过所述待展示区域的纵向尺寸时，将所述待展示区域的横向尺寸和纵向尺寸分别作为用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的横向尺寸和纵向尺寸。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各所述目标拓扑元素的三维坐标信息和所述第二尺寸信息，对位于所述截图边框中的所述目标拓扑结构进行居中处理，包括：

基于各所述目标拓扑元素的二维坐标信息、所述最大横向尺寸和所述最大纵向尺寸，确定所述目标拓扑结构的中心点坐标；

基于所述中心点坐标和所述截图边框的横向尺寸和纵向尺寸，对位于所述截图边框中的所述目标拓扑结构进行居中处理。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第三尺寸信息和待展示区域的第一尺寸信息，确定用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的第二尺寸信息，包括：

将所述最大横向尺寸与待展示区域的横向尺寸的比值以及所述最大纵向尺寸与所述待展示区域的纵向尺寸的比值中较大的比值确定为缩放比例；

将所述待展示区域的横向尺寸与所述缩放比例的乘积和所述待展示区域的纵向尺寸与所述缩放比例的乘积分别作为用于截取所述目标拓扑结构的截图边框的横向尺寸和纵向尺寸。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于各所述目标拓扑元素的三维坐标信息和所述第二尺寸信息，对位于所述截图边框中的所述目标拓扑结构进行居中处理，包括：

基于各所述目标拓扑元素的二维坐标信息、所述最大横向尺寸、所述最大纵向尺寸、所述截图边框的横向尺寸和纵向尺寸，对位于所述截图边框中的所述目标拓扑结构进行居中处理。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，在所述响应于用户的触发操作，从三维拓扑结构中确定目标拓扑结构之后，还包括：

从所述三维拓扑结构中隐藏除所述目标拓扑结构以外的拓扑元素。