[发明专利]一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法在审

专利信息
申请号: 202210538808.X 申请日: 2022-05-18
公开(公告)号: CN114965315A 公开(公告)日: 2022-08-30
发明(设计)人: 杨海清;陈池威;倪江华;屈黎黎;李卓航;宋康磊 申请(专利权)人: 重庆大学
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31;G06Q10/06;G06F16/21;G06N3/08
代理公司: 重庆智慧之源知识产权代理事务所(普通合伙) 50234 代理人: 余洪
地址: 400038 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 光谱 成像 损伤 快速 评估 方法
【权利要求书】:

1.一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,包括以下步骤:

采集待评估区域的高光谱信息,获取高光谱数据并存储;

在已评估区域中选取特定区域,获取特定区域岩体的高光谱数据和损伤劣化等级,根据所述损伤劣化等级,对特定区域岩体的高光谱数据添加损伤劣化标签,获取原始评估数据库;

提取所述特定区域岩体的高光谱数据的光谱吸收特征参数,根据所述光谱吸收特征参数和损伤劣化标签构建新样本评估数据库;

根据随机森林算法构建岩体损伤评估模型,采用所述新样本评估数据库,对所述岩体损伤评估模型进行训练和优化;

将待评估区域的高光谱数据导入优化后的岩体损伤评估模型,获取待评估区域的岩体损伤劣化等级。

2.根据权利要求1所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,采用便携式凝视型高光谱成像仪对待评估的所有区域进行高光谱信息的采集;采集时,选择固定参数采集模式,采集的波段为980~1700nm,间隔通道为5nm,共计145个波段。

3.根据权利要求2所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,在采用便携式凝视型高光谱成像仪进行高光谱信息采集时,物距应保持一致,误差不超过1m,所述物距为便携式凝视型高光谱成像仪的目镜与待评估区域岩体的距离。

4.根据权利要求1所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,所述特定区域为无损伤劣化特征的区域和具有明显损伤劣化特征的区域。

5.根据权利要求1所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,所述损伤劣化等级为粉化、盐析风化、化学风化和生物风化分别对应的重、中、轻三个等级。

6.根据权利要求2所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,在获取原始评估数据库时,用于原始评估数据库构建的高光谱数据的波段范围为1000~1680nm,共计137个波段。

7.根据权利要求1所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,所述提取所述特定区域岩体的高光谱数据的光谱吸收特征参数,根据所述光谱吸收特征参数和损伤劣化标签构建新样本评估数据库,具体包括:

利用Python算法对原始评估数据库中的高光谱数据进行包络线去除,突出岩体的光谱吸收特征参数,并提取突出的光谱吸收特征参数;

根据所述光谱吸收特征参数和损伤劣化标签构建新样本评估数据库。

8.根据权利要求7所述的一种基于高光谱成像的岩体损伤劣化快速评估方法,其特征在于,所述光谱吸收特征参数包括光谱反射率、光谱吸收谷位置、光谱吸收深度、光谱吸收宽度、吸收谷面积、吸收对称性和光谱吸收指数;

其中,所述光谱吸收谷位置为在包络线去除后的吸收谷中,反射率最低处的波长,定义为:

AP=λ(ρmin);

式中,ρ为包络线去除后的反射率;

所述光谱吸收深度反映了吸收的程度,定义为:

AD=1-ρAP

所述光谱吸收宽度为最大吸收深度一半处的光谱深度;

所述吸收谷面积为吸收谷曲线于基线围成区域的面积,定义为:

所述吸收对称性为以过吸收谷位置的垂线为边界,右侧区域面积SR与左侧区域SL比值的常用对数,定义为:

所述光谱吸收指数为原始光谱曲线吸收谷区间吸收谷位置λM的反射率与基线值比值的倒数,定义为:

其中,所述基线值为区间曲线两端点连线上吸收谷位置对应数值。

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